技术编号:5836706
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及集成电路领域,更具体地说,本发明涉及集成电路芯片之间的输入/输出。背景信息目前,集成电路芯片、如中央处理器(CPU)的输入/输出(I/O)定时测试是采用测试器来执行的。利用仔细校准的多通道测试器,可以测试所有引脚的I/O定时,其中测试器和芯片上锁相环(PLL)共用同一时钟。规范指定的I/O定时是通过练习在测试器设置期间编程的不同“最坏情况”模式获得的。再者,测试器环境被设计为尽可能地模拟真实系统环境。在测试器环境中测量I/O定时有若干缺点。为...
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