技术编号：5841898
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体封装元件测试装置，特别是关于一种应用于手动测试的半导体封装元件测试装置。然而，针对一些特殊状况而言，例如产品开发测试、少量产品验证、测试产品电性等，假如特地为这些特殊状况设置购买一套自动化测试装置，则成本过高；假如挪用产线上的自动化测试装置来应付这些特殊状况，则会使生产线的停顿而造成浪费，并且会造成测试人员的麻烦，因为测试人员可能必须往返于不同部门，亦可能必须搬动这些测试装置，例如自动测试分类机。另外，上述的自动测试分类机通常只能够针对...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。