技术编号：5857244
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种调试系统，尤其是一种温度传感器最终测试用温度校准系 统。背景技术在温度传感器芯片的最终测试(FT，Final Test)中，要求将被测芯片校准到实际 环境温度的士0. 1°C。而最终测试车间温度很难精确控制，所以被测芯片的温度一直在漂 移，如何将被测芯片精确地校准到实际温度是一个挑战。现有的最终测试是将温度传感器 的目标值固定为室温。但室温会不停变化，这导致产品在最终测试校准后测温不准。发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种温度传...
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