技术编号:5866920
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种集成电路故障测试系统和方法,特别是一种应用于集成电路片上 系统(SOC System on a Chip)的核间连线故障的测试系统和方法。背景技术现在集成电路(IC)设计商都朝着更佳的成本优势与上市时间发展,以最快的速 度,最优的性价比抢的市场先机,这些需求的存在迫切使得多种功能整合到一个芯片上成 为可能,片上系统(SOC System on a chip)应运而生。从工程角度来看,将更多功能整合 到单一芯片内,确能达到节省成本的目的,但如果...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。