技术编号：5867834
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种板级混合电路的测试模块及测试方法。 背景技术随着电子技术的发展，电子系统变得越来越复杂。普通的电子系统中往往包括数 字电路、模拟电路，微处理器和FPGA等可编程器件，先进而复杂的电子设备在提高系统性 能的同时，也带来了繁重的测试和故障诊断的问题。。因此，设计阶段就应该考虑测试的问 题，这样才能利于整个寿命周期的测试和故障诊断。实验研究结果表明，测试的总体原则是 将复杂的整个系统按功能要求分成若干子功能模块，然后分别处理。通常可将处理过程分 为...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。