技术编号:5885540
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种发光二极管(Light Emitting Diode ;以下简称“LED”)检测方法,特别涉及一种模拟LED光源混光状态的检测方法,是利用软件方面的改进模拟多个LED 单元出光通过扩散片后所展现的混光状态。背景技术随着发光二极管(Light Emitting Diode ;以下简称“LED”)技术成熟发展且价格持续下降,以LED取代冷阴极管作为大尺寸面板的背光源的趋势势必逐渐成型。在实际应用上,由于LED属于点状光源,作为背光源使用时常会以多...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。