专利名称：模拟发光二极管光源混光状态的检测方法
技术领域：
本发明涉及一种发光二极管(Light Emitting Diode ；以下简称“LED”)检测方法，特别涉及一种模拟LED光源混光状态的检测方法，是利用软件方面的改进模拟多个LED 单元出光通过扩散片后所展现的混光状态。
背景技术：
随着发光二极管(Light Emitting Diode ；以下简称“LED”)技术成熟发展且价格持续下降，以LED取代冷阴极管作为大尺寸面板的背光源的趋势势必逐渐成型。在实际应用上，由于LED属于点状光源，作为背光源使用时常会以多个LED封装为一长条状的LED灯条(LED Light Bar)，并将多个LED灯条黏着于面板四周使用。目前，上述LED灯条在出货前的检验阶段，为了模拟实际应用在面板成品中的光线表现，会通过至少一扩散片(Diffuser Film)使待测LED灯条的出光经混光后分布成均勻的面光源，再利用一单点式光色度测量装置进行检测。在检测一待测LED灯条时，该待测 LED灯条上的多个不同区段会依序通电发亮，以供单点式光色度测量装置在不同区段互不干扰的情况下，测量各区段的分别光强度与光色度值，以供比对而藉以查验该待测LED灯条是否为均勻发光的良品。进一步解释上述检验流程，请参阅图1与图1A，其是本发明现有技术中LED灯条检验方法的作动示意图。如图，LED灯条100可区分为一区段A与一区段B，各区段中的LED 单元1是相互电性连结。实际进行检测时，是在LED灯条100上披覆一扩散片200。首先通电点亮区段A的LED单元1，供单点式光色度测量装置300对区段A的LED单元1通过扩散片200的出光撷取一第一光强度与一第一色度值；接着，通电点亮区段B的LED单元1，并移动单点式光色度测量装置300撷取一第二光强度与一第二色度值。比对第一光强度、第一色度值、第二光强度与第二色度值是否在合格规范内，即可判断该LED灯条100是否表现符合标准。上述检验作法的优点是，无须对待测LED灯条上每一个LED分别检测，即可确保整个LED灯条通过扩散片的光线表现符合检验标准。但是，为了因应扩散片的混光作用会造成不同LED灯条的出光相互干扰的问题，上述检验作法变得必须以区段为单位逐步通电发亮进行检查，使检验过程变得相当耗时、效率不显著。若欲同时检测大量的待测LED灯条，势必要克服多个待测LED灯条同时点亮后，其光线通过扩散片后漫射而均勻混合，导致无法分别辨识检验的问题。本发明提供一种具新颖性的模拟LED光源混光状态的检测方法，应用于LED灯条的检验时，可一次性检测大量待测LED灯条，大幅提高检验效率，达到缩短工艺的功效。
发明内容
有鉴于在现有技术中，存在如上述LED灯条的检验效率无法提升的难题，本发明的目的在于提供一种模拟LED光源混光状态的检测方法，可同时检测多个LED灯条，并排除该多个LED灯条通过扩散片出光后会互相混杂干扰影响检验的问题，获得各LED灯条的一正确的混光状态光强度数据。本发明的模拟LED光源混光状态的检测方法为了解决现有技术的问题，所采用的技术手段是通过至少一扩散片对一 LED单元单独撷取一扩散光场场型。其中，所述的LED 单元为一最佳标准样品(Golden Sample)。接着，将该扩散光场场型正规化(Normalize)为一标准扩散光场场型。对多个LED灯条所包含的多个LED单元共同撷取一共同检测图像，并检测该共同检测图像中各LED单元的一坐标以及对应该坐标的一光强度数据。根据该些坐标与光强度数据，可将标准扩散光场场型套用于各LED单元，计算出各LED单元的一光扩散状态模拟图像。分别将该些光扩散状态模拟图像加总，可计算出各LED灯条的一混光状态光强度数据。在本发明的一较佳实施例中，是利用一图像撷取装置撷取该共同检测图像。且所述各LED单元的一坐标，是指各LED单元的一法线出光点的坐标。在将标准扩散光场场型套用于各LED单元时，是将各LED单元的该法线出光点的坐标所对应的光强度数据，代入该标准扩散光场场型的一中心坐标。 相较于现有技术中，LED灯条混光状态的检测方法相当耗时而不具效率，本发明的模拟LED光源混光状态的检测方法，可配合面板成品的规格事先制出一适配的标准扩散光场场型，在无扩散片的状况下同时对大量LED单元共同撷取一共同检测图像，再将标准扩散光场场型套用于各LED单元，计算出各LED单元的一光扩散状态模拟图像；如此一来，无需考虑LED灯条通过扩散片出光后的均光作用，而可一次性检测多个LED灯条与其所包含的LED单元，也可适用长直条以外各种形状的LED灯条，除此之外，本发明的检测方法能够在一次的测量过程中就得到LED灯条的整体光强度分布数据(profile)，相较于现有技术必须对每一个LED单元所处位置逐一测量后才能得到LED灯条的整体光强度分布数据，测量过程也简化许多。 以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
混光状态光强度数据13区段A区段B中心坐标Xl
具体实施例方式下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述本发明是关于一种发光二极管(Light Emitting Diode ；以下简称“LED”)检测方法，特别是指一种模拟LED光源混光状态的检测方法。以下兹列举本发明的一较佳实施例以说明，然本领域技术人员均知此仅为举例，而并非用以限定发明本身。有关此较佳实施例的内容详述如下。本发明的模拟LED光源混光状态的检测方法应用于同时检测多个LED单元。所述 LED单元可为LED芯片组件，并且以多个为一组，组合成多个LED灯条(LED light bar)。所述LED灯条应用于平面显示器面板的背光源，故须进行光线混光状态的检测。请参阅图2至图2B。图2为本发明中扩散光场图像的示意图；图2A为本发明中扩散光场场型的一维示意图；图2B为本发明中标准扩散光场场型的示意图。本发明的模拟LED光源混光状态的检测方法的首先步骤，为通过至少一扩散片 (Diffuser Film)对该多个LED单元中的至少一个单独撷取一扩散光场图像11，以分析出一扩散光场场型。较佳者，所述的至少一 LED单元为一最佳标准样品(Golden Sample) 0或者，也可对该些LED单元中多个分别撷取一扩散光场图像。所撷取的该些扩散光场图像求取平均后也可分析出一符合需求的扩散光场场型。如图2A所示，扩散光场场型具有一中心坐标(该中心坐标的X轴坐标是标示为 XI)。接着，如图2B所示，将该扩散光场场型正规化(Normalize)为一标准扩散光场场型。请参阅如图3所显示的LED灯条的示意图。本发明的LED光源混光状态的检测方法，是在获得该标准扩散光场场型之后，利用一图像撷取装置(未绘制)对该多个LED灯条 100所包含的多个LED单元1共同撷取一如图3A所示的共同检测图像12。由共同检测图像12中，检测各LED单元1的一坐标以及对应该坐标的一光强度数据，以获得如表一所显示的LED单元的坐标与光强度数据的表格图。其中，该坐标是指各 LED单元1的一法线出光点的坐标，法线出光点通常为各LED单元1的最亮出光点。表一
权利要求
1.一种模拟发光二极管LED光源混光状态的检测方法，应用于同时检测多个LED单元， 并获取各LED单元的一混光状态模拟图像，其特征在于，该模拟LED光源混光状态的检测方法包含下列步骤(a)通过至少一扩散片对该些LED单元中的至少一个单独撷取一扩散光场场型；(b)将该扩散光场场型正规化为一标准扩散光场场型；(c)对该些LED单元共同撷取一共同检测图像；(d)检测该共同检测图像中各LED单元的一坐标与对应该坐标的一光强度数据；以及根据各LED单元的坐标与所对应的光强度数据，将该标准扩散光场场型套用于各LED单元，以计算出各LED单元的上述光扩散状态模拟图像。
2.根据权利要求1所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，在该步骤(d)中，该坐标是指各LED单元的一法线出光点的坐标。
3.根据权利要求1所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，该步骤(e)还包含一步骤(el)，其是在将该标准扩散光场场型套用于各LED单元时，将各LED 单元的该法线出光点的坐标所对应的光强度数据，代入该标准扩散光场场型的一中心坐标。
4.根据权利要求1所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，该 LED单元为一 LED芯片组件。
5.根据权利要求1所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，该些LED单元为组成多个LED灯条。
6.根据权利要求5所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，该步骤(e)还包含一步骤(e2)，其是通过各LED单元的光扩散状态模拟图像，计算出各LED灯条的一混光状态光强度数据。
7.根据权利要求1所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，在该步骤(a)中，该些LED单元中的至少一个为一最佳标准样品。
8.根据权利要求1所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，该步骤(c)还包含一步骤(cl)，其是利用一图像撷取装置对该些LED单元撷取该共同检测图像。
9.根据权利要求8所述的模拟发光二极管光源混光状态的检测方法，其特征在于，该图像撷取装置于朝向该些LED单元的一侧处还设置有至少一第一滤光片、至少一第二滤光片与至少一第三滤光片，且该第一滤光片、该第二滤光片以及该第三滤光片，分别对应CIE 配色函数所规范的三刺激值。
全文摘要
一种模拟发光二极管LED光源混光状态的检测方法，在无扩散片的状态下对多个LED灯条所包含的多个LED单元共同撷取一共同检测图像；检测共同检测图像中各LED单元的一坐标与对应该坐标的一光强度数据；将一标准扩散光场场型套用于各LED单元，以计算出各LED单元的一光扩散状态模拟图像；通过该些光扩散状态模拟图像，计算出各LED灯条的一混光状态光强度数据。
文档编号G01J1/00GK102564572SQ201010623958
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月29日 优先权日2010年12月29日
发明者李明翰, 杨欣泰, 翁义龙 申请人:致茂电子(苏州)有限公司