技术编号：5885666
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种射线测量分析设备漂移的实时补偿技术，尤其是涉及一种X射线 荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置。背景技术矿物加工过程中，通常用X荧光分析仪对矿浆品位进行在线检测，仪器在运行中， 随着时间的推移及周围环境因数的不断变化，其运行状态也在逐渐地变化，仪器的短期波 动或漂移及仪器的长期漂移都会引起荧光光谱分析的测量精度。短期的稳定性是由环境温 度、大气压、交流电网、X光管电源、探测器的波动与漂移所引起。仪器的长期漂移则由于仪 器元器件老化所引起，其...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。