专利名称：X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种射线测量分析设备漂移的实时补偿技术，尤其是涉及一种X射线 荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置。
背景技术：
矿物加工过程中，通常用X荧光分析仪对矿浆品位进行在线检测，仪器在运行中， 随着时间的推移及周围环境因数的不断变化，其运行状态也在逐渐地变化，仪器的短期波 动或漂移及仪器的长期漂移都会引起荧光光谱分析的测量精度。短期的稳定性是由环境温 度、大气压、交流电网、X光管电源、探测器的波动与漂移所引起。仪器的长期漂移则由于仪 器元器件老化所引起，其中包括X光管电源输出电压随着电阻及其他元件的老化，光管靶 面可能出现斑痕及金属升华物积淀到窗口内表面，导致射线输出强度下降，衍射晶体反射 效率降低，探测器量子效率下降等等。现有技术中，对X荧光分析仪漂移的校正方法，一般是根据经验，当仪器运行一段 时间后，对仪器进行回零校正。上述现有技术至少存在以下缺点难以自动、实时的补偿仪器测量精度上的漂移，仪器的稳定性能和测量精度较低。
发明内容
本发明的目的是提供一种能够自动、实时补偿仪器测量精度上的漂移，提高仪器 的稳定性能和测量精度的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法。本发明的目的是通过以下技术方案实现的本发明的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法，包括步骤首先，按照待测金属元素及其含量制备参比样品，并用X荧光分析仪多次测量所 述参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率；然后，取多次测量的参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率的平均值作为原始 目标强度值；之后，在所述X荧光分析仪每次测量待测样品前，首先测量一次所述参比样品，并 将该次测量的待测金属元素的脉冲计数率与所述原始目标强度值进行比较，将比较的结果 作为本次测量的修正系数；最后，测量待测样品，并用所述修正系数对本次测量待测样品的结果进行修正。本发明的实现上述的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，包括X 光管，所述X光管的前方设有样品盒，所述X光管与样品盒之间设有参比样品，所述参比样 品能够移出或移入所述X光管与样品盒之间。由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明所述的X射线荧光定量检测时仪 器漂移的校正方法及装置，由于在X光管与测量样品盒之间，设置一个受仪器控制的参比 机构；按待测金属元素压制成的参比样品安装在该机构上；使用X荧光分析仪测量参比样品，得到参比样的脉冲计数率作为原始目标强度值。X荧光分析仪在线运行测量时，每次测量矿浆样本之前都要测量一次参比样的计数率，并将此计数率与参比样原始目标强度的 比值作为标准化系数，利用计算的标准化系数对每次测量的矿浆样本的脉冲计数率加以修 正，得到在线矿浆的标准脉冲计数率。能够自动、实时补偿仪器因长期或短期带来的性能指 标上的漂移，提高仪器的稳定性能和测量精度指标。
图1为本发明X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法具体实施例的流程图；图2为本发明实现X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置具体实施例 的结构示意图。
具体实施例方式本发明的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法，其较佳的具体实施方式
如 图1所示，包括步骤首先，按照待测金属元素及其含量制备参比样品，并用X荧光分析仪多次测量所 述参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率；然后，取多次测量的参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率的平均值作为原始 目标强度值；之后，在所述X荧光分析仪每次测量待测样品前，首先测量一次所述参比样品，并 将该次测量的待测金属元素的脉冲计数率与所述原始目标强度值进行比较，将比较的结果 作为本次测量的修正系数；最后，测量待测样品，并用所述修正系数对本次测量待测样品的结果进行修正。本发明的实现上述的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，其较佳 的具体实施方式
如图2所示包括X光管，所述X光管的前方设有样品盒，所述X光管与样品盒之间设有参比样 品，所述参比样品能够移出或移入所述X光管与样品盒之间。所述参比样品可以固定在参比机构上，所述参比机构可以驱动所述参比样品移出 或移入所述X光管与样品盒之间。本发明的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正检测方法及装置，是在参比机构 的配合下，通过一种标准化测量方法，计算漂移校正常数，进行光谱仪脉冲值修正的处理过 程。用于克服仪器因长期或短期漂移对目标强度值造成的影响，提高了目标强度的测量精 度，从而提高分析仪的品位分析精度。下面通过具体实施例并结合附图对本发明进行详细说明再参见图1、图2:在X光管与测量样品盒之间，设置一个受仪器控制的参比机构；按待测金属元素 及含量，用粉术样制备参比样品，压制成型，安装在图1中的参比样品位置；每当需要测量 进行参比校正时，参比机构使参比样品进入X光管和样品盒之间。完成测量后，参比机构使参比样品离开X光管和样品盒之间，使之可以测量样品 盒的矿浆样品。
按照图2的流程，在仪器投入正常使用前，参比样品进入测量位置，X荧光分析仪 测量一定次数的该参比样品，得出参比样测量中各自元素的脉冲计数率的平均值，作为参 比样原始目标强度值；以后，分析仪仪器在线运行时，首先进行标准化测量，即每次测量矿浆样本之前都 要测量一次参比样的计数率，并将此计数率与参比样原始目标强度值的比值的结果就是标 准化系数，作为仪器漂移的补偿修正系数。最后，利用计算的标准化系数，对本次测量的矿浆样本的脉冲计数率加以修正，得 到在线矿浆的标准脉冲计数率，以补偿仪器因长期或短期带来的性能指标上的漂移。本发明可以用于在线X射线荧光分析仪的金属元素含量检测仪器设备中，可以很好地补偿仪器因长期或短期带来的性能指标上的漂移，提高仪器的稳定性能和测量精度指 标。以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换， 都应涵盖在本发明的保护范围之内。
权利要求
一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法，其特征在于，包括步骤首先，按照待测金属元素及其含量制备参比样品，并用X荧光分析仪多次测量所述参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率；然后，取多次测量的参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率的平均值作为原始目标强度值；之后，在所述X荧光分析仪每次测量待测样品前，首先测量一次所述参比样品，并将该次测量的待测金属元素的脉冲计数率与所述原始目标强度值进行比较，将比较的结果作为本次测量的修正系数；最后，测量待测样品，并用所述修正系数对本次测量待测样品的结果进行修正。
2.一种实现权利要求1所述的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，包 括X光管，所述X光管的前方设有样品盒，其特征在于，所述X光管与样品盒之间设有参比 样品，所述参比样品能够移出或移入所述X光管与样品盒之间。
3.根据权利要求2所述的实现X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，其 特征在于，所述参比样品固定在参比机构上，所述参比机构驱动所述参比样品移出或移入 所述X光管与样品盒之间。
全文摘要
本发明公开了一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置，在X光管与测量样品盒之间，设置一个受仪器控制的参比机构；按待测金属元素压制成的参比样品安装在该机构上；使用X荧光分析仪测量参比样品，得到参比样的脉冲计数率作为原始目标强度值。X荧光分析仪在线运行测量时，每次测量矿浆样本之前都要测量一次参比样的计数率，并将此计数率与参比样原始目标强度的比值作为标准化系数，利用计算的标准化系数对每次测量的矿浆样本的脉冲计数率加以修正，得到在线矿浆测量的标准脉冲计数率。能够实时补偿仪器因长期或短期带来的性能指标上的漂移，提高仪器的稳定性能和测量精度指标。
文档编号G01N23/223GK101813646SQ201019114089
公开日2010年8月25日 申请日期2010年2月26日 优先权日2010年2月26日
发明者周俊武, 徐宁, 李传伟, 杨树亮, 赵宇, 赵建军, 高扬 申请人:北京矿冶研究总院