技术编号:5895763
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置,是能对56线节距为1. 27mm的 56线陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选试验和性能测试的插座。本实 用新型属电子信息技术微电子元器件可靠性领域。背景技术目前,在我国电子元器件可靠性,公知的国内一般老化试验插座的本 体材料大都采用的是非耐高温普通塑料,在对被测器件进行测试时,老化工作温度仅 为-25°C +85°C,工作时间短、接触件节距宽、引线根数少、结构简单,存在着与被测器件 之间接触电阻大、...
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