专利名称：56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对56线节距为1. 27mm的 56线陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选试验和性能测试的插座。本实 用新型属电子信息技术微电子元器件可靠性领域。
背景技术：
目前，在我国电子元器件可靠性技术领域，公知的国内一般老化试验插座的本 体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅 为-25°C +85°C，工作时间短、接触件节距宽、引线根数少、结构简单，存在着与被测器件 之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量 筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性技术领域内特别是对 配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、 通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的微电子元器件，尚无高低温老化可靠性试验和 测试的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂贵，国家每年要花 费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重要产品还因禁运而 影响我国军用电子元器件研发生产进度。
发明内容为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不 足，本实用新型提供一种新型的专用于集成电路、微电子元器件在线通电状态下进行高低 温老化、测试、筛选及可靠性试验的56线节距为1. 27mm的56线陶瓷四边引线扁平封装元 器件插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25°C +85°C扩展至-55°C +150°C，一 次老化连续工作时间长达1500h (150°C )以上，插拔寿命8000次以上，而且在对被测试器件 进行高温老化试验和性能测试过程中，具有引线根数多、接触件节距细、接触电阻小、一致 性好、低插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是按照56线陶瓷四边引线扁平封 装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件，插座体 和接触件是一个统一整体。插座体由座、盖和钩组成，选用耐高温型工程塑料，经高温注塑 成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的自动压紧和接触件的固定。同时插座座体 具有斜面定位作用，用于被试器件的定位安装，方便被试器件的放入和取出。插座体可起压 紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使盖产生位移，从而使被试器件压紧接触件。 接触件以铍青铜材料冲压成型，经300°C高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，接触 件由两边对称的56线、1. 27mm细节距的镀金前后脚接触件交替排列组成，安装于插座体座 中。即按与被试器件引出线相对应的方式，分别安装于座的4面凹槽中，通电后进行高温老 化试验和性能测试。这种翻盖式结构把接触件设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构，避免了 接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，且可以满足被试器件不 同引线数目(56线内)的要求。本实用新型的有益效果是该实用新型可以满足军民通用56线型和其它同类陶 瓷四边引线扁平封装元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家 节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。
以下结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。图2是本实用新型外型结构俯视图。图11后脚接触件2座3前脚接触件4轴5大扭簧6盖7小扭簧8钩 具体实施方案在图1中，第一步将接触件即前脚接触件( 和后脚接触件(1)按与被试器件引 出线相对应结构插入座O)中；第二步将钩(8)、小扭簧(7)和轴(4)装入盖(6)内；第三 步再将装好的盖(6)、大扭簧( 和轴(4)装入座(1)内。该方案中，插座座体用于接触件固定，同时用于被试器件的安装定位；插座体起着 压紧装置的作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，盖受力向下运动，使被试器件自动压紧接 触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧和零插拔力结构安装于插 座体的座中。
权利要求1.一种56线1. 27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是它是由 插座体和接触件两个部分统一组成，插座体由座( 、盖(6)和钩(8)组成，用于被试器件的 自动压紧，插座体选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件与被 试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2.根据权利要求1所述的56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座， 其特征是插座体和接触件是一个统一整体，接触件(1)、(3)由两边对称的56线、1.27mm 细节距的镀金前后脚接触件交替排列组成，分别安装于座O)的4面凹槽中。
3.根据权利要求1所述的56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座， 其特征是当钩(8)受力与座( 啮合时，盖(6)向下运动，使被试器件压紧接触件。这种 翻盖式结构把接触件(1)、(3)设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构。
专利摘要本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对56线陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按56线1.27节距陶瓷四边引线片式载体封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型，插座体还起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件压紧接触件。插座座体还有斜面对器件进行定位，可以方便器件放入或取出。接触件以铍青铜材料冲压成型，采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。
文档编号G01R31/00GK201918561SQ20102028196
公开日2011年8月3日 申请日期2010年8月2日 优先权日2010年8月2日
发明者曹宏国 申请人:曹宏国