技术编号：5910275
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种利用X-射线粉晶衍射分析(XRD)定量测定样品中不同物相含量的方法，尤其是利用X-射线粉晶衍射分析(XRD)对TiO2中金红石型TiO2和锐钛型TiO2含量的快速定量测定方法。背景技术 TiO2是一种用途广泛的化工产品，有金红石型和锐钛型二种晶型。由于这二种晶型的结构不同，其化学性质和用途也不相同，不同的晶型和含量可分别用于化工催化剂、造纸、化妆品、涂料、塑料、搪瓷、电焊条焊药、电器元件的添加剂等。因此需要对TiO2的研发、生产过程及产品中的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。