瓷套形位公差检验装置的制作方法技术资料下载

技术编号:5916980

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本实用新型所属的涉及检验装置,具体地说是涉及瓷套形位公差检验装置。背景技术瓷套的形位公差要求的比较严格,现有技术检验所用的工具是在一个转盘上竖直放置瓷套,转动转盘,以瓷套下端为基准,测量瓷套上面的法兰是否在一个圆形上运动测量形位公差,它所使用的转盘是平面结构的,依靠的是在转盘上面直径两端有两个定位销子定位,这样的装置具有测量麻烦、精确度低、效率低的缺点。发明内容本实用新型的目的就针对上述缺点,提供一种检验准确、精确度高、操作方便的瓷套形位公差检验装置。本实...
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