专利名称：瓷套形位公差检验装置的制作方法
技术领域：
本实用新型所属的技术领域涉及检验装置，具体地说是涉及瓷套形位公差检验装置。
背景技术：
瓷套的形位公差要求的比较严格，现有技术检验所用的工具是在一个转盘上竖直放置瓷套，转动转盘，以瓷套下端为基准，测量瓷套上面的法兰是否在一个圆形上运动测量形位公差，它所使用的转盘是平面结构的，依靠的是在转盘上面直径两端有两个定位销子定位，这样的装置具有测量麻烦、精确度低、效率低的缺点。
发明内容本实用新型的目的就针对上述缺点，提供一种检验准确、精确度高、操作方便的瓷套形位公差检验装置。本实用新型所采取的技术方案是瓷套形位公差检验装置，包括底座和检验转盘， 其特征是所述的检验转盘上具有一个和转盘同心的圆形凸起，所述的底座是三爪卡盘，检验转盘安放在三爪卡盘上。进一步的讲，所述的检验装置侧部有一个立杆，立杆上有经磁力座和活动节杆连接的百分表。本使用新型的有益效果是由于本实用新型采取了以上结构，使得这样的检验装置具有检验准确、精确度高、操作方便的优点。
图1是本实用新型的结构示意图。其中；1、底座 2、检验转盘 3、圆形凸起 4、立杆5、活动节杆 6、磁力座 7、百分表。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的描述。如图1所示瓷套形位公差检验装置，包括底座1和检验转盘2，其特征是所述的检验转盘2上具有一个和转盘同心的圆形凸起3，所述的底座1是三爪卡盘，检验转盘2安放在三爪卡盘上。所述的三爪卡盘广泛应用在车床上，具有定位准确的特点，检验转盘2的圆形凸起3和瓷套法兰的止口吻合，具有定位准确的特点，检验不同的瓷套可以更换检验转盘2， 使每一次检验瓷套的法兰都和检验转盘的圆形凸起3吻合。进一步的讲，所述的检验装置侧部有一个立杆4，立杆4上有经磁力座6和活动节杆5连接的百分表7，使用这样的装置能够准确的测量瓷套的形位公差。
权利要求1.瓷套形位公差检验装置，包括底座和检验转盘，其特征是所述的检验转盘上具有一个和转盘同心的圆形凸起，所述的底座是三爪卡盘，检验转盘安放在三爪卡盘上。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征是所述的检验装置侧部有一个立杆，立杆上有经磁力座和活动节杆连接的百分表。
专利摘要本实用新型所属的技术领域涉及检验装置，具体地说是涉及瓷套形位公差检验装置。瓷套形位公差检验装置，包括底座和检验转盘，其特征是所述的检验转盘上具有一个和转盘同心的圆形凸起，所述的底座是三爪卡盘，检验转盘安放在三爪卡盘上。进一步的讲，所述的检验装置侧部有一个立杆，立杆上有经磁力座和活动节杆连接的百分表。这样的检验装置具有检验准确、精确度高、操作方便的优点。
文档编号G01B5/00GK202126227SQ201120214738
公开日2012年1月25日 申请日期2011年6月23日 优先权日2011年6月23日
发明者张松岭, 盛根岭, 闫清现 申请人:河南德信电瓷有限公司