技术编号：5920143
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于精密测量设备设计，具体涉及一种带调节装置的正弦规。背景技术平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差，平面度属于形位误差中的形状误差。由于测量一些与相对面成一定角度倾斜的工件的平面度，必须在正弦规上测量， 以构建出工件与相对面的一个相对角度。一般测量时，将待测工件放置于正弦规的斜面上， 利用量块配合正弦规调整出工件的相对角度，使相对角度在规定的公差范围内，以便工件的平面度测量。传统测量过程，需要磨削若干量块，依次测量，直至工件的相对角...
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