技术编号:5933169
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及ー种半自动温度测试仪,主要涉及半导体致冷器件的半自动温度测试仪技木,是对现行普通温度测试仪的技术改迸。背景技术随着半导体制冷技术的发展,半导体致冷器件温度测试仪技术也随之不断的升级换代。从最早的第一代,人们采用普通温度计对半导体致冷器件进行温度检测,但测量的精 确度并不理想,且由于人为造成的安装和读数误差直接影响测量的可靠性。第二代产品从測量原理上对测量方法进行了改良,将机械式測量升级为机电结合式測量,測量方法的改进,直接促使了测量效率、測量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。