技术编号:5935855
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及测试系统,具体涉及射频集成电路测试系统。背景技术随着集成电路的发展,越来越倾向于数模混合单片集成电路。电路内部通过数字功能模块对模拟部分进行控制,因此对于集成电路的测试分析,首先需要验证数字功能模块部分,以达到通过数字功能模块控制模拟部分的正常工作。由于不同的电路内部集成的数字功能模块并不一样,其中包括I2C通信协议、SPI串行通信协议、逻辑电平控制等。而对于射频集成电路,根据接收通道、发射通道与频综等不同的单元,其参数指标差异性较大。因此对...
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