技术编号:5944336
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路测试设备领域,尤其是一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置。背景技术为确保安全,集成电路需要进行耐高压及大电流测试;由于集成电路成批生产,测试工作量很大且安全性要求高,为了克服目前由操作人员用测试仪器进行集成电路高压大电流的测试,存在测试效率低且安全性差的不足,因此,设计一种测试效率高且安全性好的 集成电路高压大电流测试装置,成为亟待解决的问题。发明内容本发明的目的是为了克服目前集成电路高压大电流的测试,存在测试效率低且安全...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。