专利名称：集成电路高压大电流测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及集成电路测试设备领域，尤其是一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置。
背景技术：
为确保安全，集成电路需要进行耐高压及大电流测试；由于集成电路成批生产,测试工作量很大且安全性要求高，为了克服目前由操作人员用测试仪器进行集成电路高压大电流的测试，存在测试效率低且安全性差的不足，因此，设计一种测试效率高且安全性好的 集成电路高压大电流测试装置，成为亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的是为了克服目前集成电路高压大电流的测试，存在测试效率低且安全性差的不足，提供一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置。本发明的具体技术方案是
一种集成电路高压大电流测试装置，所述的集成电路高压大电流测试装置包括底板、送料轨道、安装板、金手指、用于固定金手指的固定绝缘座、用于放置被测集成电路的测试绝缘座、测试机构和用于推动金手指与集成电路的测试端头接触的推动机构；所述的安装板和固定绝缘座分别位于送料轨道的相对两侧，送料轨道、安装板和固定绝缘座分别与底板固定连接；所述的测试绝缘座位于送料轨道设有的凹槽处并与送料轨道固定连接；所述的测试机构和推动机构分别与安装板固定连接。该集成电路高压大电流测试装置使用时，与其配合使用的步进送料装置把被测集成电路通过送料轨道送到测试绝缘座中，推动机构推动金手指与集成电路的测试端头接触，然后测试机构下压到集成电路的塑封体及散热片上，测试机构与金手指、测试仪器和集成电路构成回路，给集成电路加高电压进行高压大电流测试；该集成电路高压大电流测试装置可方便地作为集成电路自动生产测试线的组成部分应用。该集成电路高压大电流测试装置测试效率高且安全性好。作为优选，所述的送料轨道包括底轨和盖板，测试绝缘座包括座底和座盖；所述的底轨和盖板之间相对于固定绝缘座的一侧沿长度方向设有送料槽；所述的座底和座盖之间设有与送料槽连通的测试座槽；所述的座盖的上端面设有与测试座槽贯通的测试通孔。送料轨道和固定绝缘座的结构便于制造和便于集成电路测试。作为优选，所述的测试机构包括若干根测杆、测杆绝缘座和驱动机构；所述的测杆的一端与测试通孔相对，测杆的另一端与测杆绝缘座固定连接；所述的驱动机构分别与测杆绝缘座和安装板固定连接。测试机构结构简单实用。作为优选，所述的驱动机构包括驱动气缸、弹性缓冲板、导柱和导向块；所述的驱动气缸和导向块分别位于安装板的相对两侧并与安装板固定连接；所述的弹性缓冲板位于安装板的上方，弹性缓冲板的两端分别与驱动气缸的驱动缸杆和导柱的一端固定连接，导柱的另一端穿过导向块设有的与导柱匹配的导向孔与测杆绝缘座固定连接。导柱和导向块使测杆升降平稳，弹性缓冲板使测杆与被测集成电路接触良好又使被测集成电路不受损伤。作为优选，所述的测杆绝缘座的材料为MC尼龙。MC尼龙具有良好的电绝缘性、耐磨性、耐腐蚀性、减震性和减噪性且密度小重量轻。作为优选,所述的推动机构包括推动气缸和绝缘压块；所述的推动气缸与安装板相对于固定绝缘座的一侧端固定连接，推动气缸的推动缸杆与绝缘压块的上端固定连接。推动机构结构简单实用。作为优选，所述的推动气缸为不转杆气缸。使绝缘压块不转动利于推动金手指与 集成电路的测试端头接触。作为优选，所述的绝缘压块的下端设有弧形压面。利于推动金手指与集成电路的测试端头接触。作为优选，所述的测试绝缘座的材料为氧化锆陶瓷。氧化锆具有良好的耐腐蚀、耐磨损、耐高温、不导磁、不导电、强度高、刚性好、比重轻等特性。作为优选，所述的固定绝缘座的材料为聚四氟乙烯。聚四氟乙烯具有优良的介电性能，绝缘性能好、击穿电压高、耐电弧性好、而且其电绝缘性不受环境及频率的影响。与现有技术相比，本发明的有益效果是一.该集成电路高压大电流测试装置测试效率高且安全性好。二.送料轨道和固定绝缘座的结构便于制造和便于集成电路测试。三.测试机构结构简单实用；导柱和导向块使测杆升降平稳，弹性缓冲板使测杆与被测集成电路接触良好又使被测集成电路不受损伤；测杆绝缘座的材料为MC尼龙具有良好的电绝缘性、耐磨性、耐腐蚀性、减震性和减噪性且密度小重量轻。四.推动机构结构简单实用；推动气缸为不转杆气缸，使绝缘压块不转动利于推动金手指与集成电路的测试端头接触；绝缘压块的弧形压面利于推动金手指与集成电路的测试端头接触。五.测试绝缘座的材料为氧化锆陶瓷具有良好的耐腐蚀、耐磨损、耐高温、不导磁、不导电、强度高、刚性好、比重轻等特性。六.固定绝缘座的材料为聚四氟乙烯聚四氟乙烯具有优良的介电性能，绝缘性能好、击穿电压高、耐电弧性好、而且其电绝缘性不受环境及频率的影响。图I是本发明的一种结构示意图。图中底板-I、送料轨道-2、凹槽-21、底轨-22、盖板-23、送料槽-24、绝缘压块_3、弧形压面-31、金手指-4、固定绝缘座-5、测试绝缘座-6、座底-61、座盖-62、测试座槽-63、测试通孔-64、驱动气缸_7、驱动缸杆-71、导向块-8、导向孔-81、推动气缸_9、推动缸杆-91、安装板-10、测杆-11、测杆绝缘座-12、弹性缓冲板-13、导柱-14。
具体实施例方式下面结合附图
所示对本发明进行进一步描述。如附图I所示一种集成电路高压大电流测试装置包括底板I、送料轨道2、安装板10、金手指4、用于固定金手指4的固定绝缘座5、用于放置被测集成电路的测试绝缘座6、测试机构和用于推动金手指4与集成电路的测试端头接触的推动机构。所述的测试绝缘座6的材料为氧化锆陶瓷，固定绝缘座5的材料为聚四氟乙烯，安装板10的材料为MC尼龙；金手指4的与固定绝缘座5螺钉连接；安装板10和固定绝缘座5分别位于送料轨道2的相对两侧，送料轨道2、安装板10和固定绝缘座5分别与底板I螺钉连接；测试绝缘座6位于送料轨道2具有的凹槽21处并与送料轨道2固定连接；本实施例中，所述的送料轨道2包括底轨22和盖板23，测试绝缘座6包括座底61和座盖62 ;底轨22和盖板23之间相对于固定绝缘座5的一侧沿长度方向具有送料槽24，送料槽24的横截面形状与集成电路的横截面形状匹配并间隙配合；座底61和座盖62之间具有与送料槽24连通的测试座槽63 ; 座盖62的上端面具有与测试座槽63贯通的测试通孔64 ;底轨22和座底61粘结，盖板23和座盖62粘结。所述的测试机构包括两根测杆11、测杆绝缘座12和驱动机构；所述的驱动机构包括驱动气缸7、弹性缓冲板13、导柱14和导向块8 ;测杆绝缘座12和导向块8的材料均为MC尼龙；所述的测试机构的驱动机构分别与测杆11绝缘座12和安装板10固定连接，本实施例中，测杆11有两根，测杆11的一端与测试绝缘座6的测试通孔64相对，测杆11的另一端与测杆11绝缘座12螺纹连接；驱动气缸7和导向块8分别位于安装板10的相对两侧并与安装板10螺钉连接；导柱14有两根，弹性缓冲板13的材料为弹簧钢带，弹性缓冲板13位于安装板10的上方，弹性缓冲板13的两端分别与驱动气缸7的驱动缸杆71和导柱14的一端螺纹连接，导柱14的另一端穿过导向块8具有的与导柱14间隙配合的导向孔81与测杆绝缘座12螺纹连接。所述的推动机构包括推动气缸9和绝缘压块3 ;所述的推动气缸9为不转杆气缸；绝缘压块3的下端具有弧形压面31，所述的测试机构和推动机构分别与安装板10固定连接，本实施例中，推动气缸9与安装板10相对于固定绝缘座5的一侧端螺钉连接，推动气缸9的推动缸杆91与绝缘压块3的上端螺纹连接。该集成电路高压大电流测试装置使用时，与其配合使用的步进送料装置把被测集成电路通过送料轨道2送到测试绝缘座6的座底61和座盖62之间的测试座槽63中，推动气缸9的推动缸杆91伸出，推动绝缘压块3向下运动，绝缘压块3的弧形压面31下压金手指4，使金手指4与集成电路的测试端头接触；然后驱动气缸7的缸杆缩回，经弹性缓冲板13、导柱14和测杆11绝缘座12带动测杆11向下运动，测杆11的一端伸入测试通孔64下压到集成电路的塑封体及散热片上；金手指4、测杆11和测试仪器连接与集成电路构成一个回路,通过测杆11给集成电路加4KV高电压进行高压大电流测试。该集成电路高压大电流测试装置可方便地作为集成电路自动生产测试线的组成部分应用。该发明的有益效果是该集成电路高压大电流测试装置测试效率高且安全性好。送料轨道和固定绝缘座的结构便于制造和便于集成电路测试。测试机构结构简单实用；导柱和导向块使测杆升降平稳，弹性缓冲板使测杆与被测集成电路接触良好又使被测集成电路不受损伤；安装板、测杆绝缘座和导向块的材料为MC尼龙具有良好的电绝缘性、耐磨性、耐腐蚀性、减震性和减噪性且密度小重量轻。推动机构结构简单实用；推动气缸为不转杆气缸，使绝缘压块不转动利于推动金手指与集成电路的测试端头接触；绝缘压块的弧形压面利于推动金手指与集成电路的测试端头接触。测试绝缘座的材料为氧化锆陶瓷具有良好的耐腐蚀、耐磨损、耐高温、不导磁、不导电、强度高、刚性好、比重轻等特性。固定绝缘座的材料为聚四氟乙烯聚四氟乙烯具有优良的介电性能，绝缘性能好、击穿电压高、耐电弧性好、而且其电绝缘性不受环境及频率的影响。本发明可改变为多种方式对本领域的技术人员是显而易见的，这样的改变不认为脱离本发明的范围。所有这样的对所述领域的技术人员显而易见的修改，将包括在本权利要求的范围之内 。
权利要求
1.一种集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的集成电路高压大电流测试装置包括底板、送料轨道、安装板、金手指、用于固定金手指的固定绝缘座、用于放置被测集成电路的测试绝缘座、测试机构和用于推动金手指与集成电路的测试端头接触的推动机构；所述的安装板和固定绝缘座分别位于送料轨道的相对两侧，送料轨道、安装板和固定绝缘座分别与底板固定连接；所述的测试绝缘座位于送料轨道设有的凹槽处并与送料轨道固定连接；所述的测试机构和推动机构分别与安装板固定连接。
2.根据权利要求I所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的送料轨道包括底轨和盖板，测试绝缘座包括座底和座盖；所述的底轨和盖板之间相对于固定绝缘座的一侧沿长度方向设有送料槽；所述的座底和座盖之间设有与送料槽连通的测试座槽；所述的座盖的上端面设有与测试座槽贯通的测试通孔。
3.根据权利要求2所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的测试机构包括若干根测杆、测杆绝缘座和驱动机构；所述的测杆的一端与测试通孔相对，测杆的另一端与测杆绝缘座固定连接；所述的驱动机构分别与测杆绝缘座和安装板固定连接。
4.根据权利要求3所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的驱动机构包括驱动气缸、弹性缓冲板、导柱和导向块；所述的驱动气缸和导向块分别位于安装板的相对两侧并与安装板固定连接；所述的弹性缓冲板位于安装板的上方，弹性缓冲板的两端分别与驱动气缸的驱动缸杆和导柱的一端固定连接，导柱的另一端穿过导向块设有的与导柱匹配的导向孔与测杆绝缘座固定连接。
5.根据权利要求3或4所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的测杆绝缘座的材料为MC尼龙。
6.根据权利要求I或2或3或4所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的推动机构包括推动气缸和绝缘压块；所述的推动气缸与安装板相对于固定绝缘座的一侧端固定连接，推动气缸的推动缸杆与绝缘压块的上端固定连接。
7.根据权利要求6所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的推动气缸为不转杆气缸。
8.根据权利要求6所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的绝缘压块的下端设有弧形压面。
9.根据权利要求I或2或3或4所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的测试绝缘座的材料为氧化锆陶瓷。
10.根据权利要求I或2或3或4所述的集成电路高压大电流测试装置，其特征是所述的固定绝缘座的材料为聚四氟乙烯。
全文摘要
本发明涉及集成电路测试设备领域，目的是提供一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置。一种集成电路高压大电流测试装置，所述的集成电路高压大电流测试装置包括底板、送料轨道、安装板、金手指、用于固定金手指的固定绝缘座、用于放置被测集成电路的测试绝缘座、测试机构和用于推动金手指与集成电路的测试端头接触的推动机构；所述的安装板和固定绝缘座分别位于送料轨道的相对两侧，送料轨道、安装板和固定绝缘座分别与底板固定连接；所述的测试绝缘座位于送料轨道设有的凹槽处并与送料轨道固定连接；所述的测试机构和推动机构分别与安装板固定连接。该集成电路高压大电流测试装置测试效率高且安全性好。
文档编号G01R31/28GK102636735SQ20121007404
公开日2012年8月15日 申请日期2012年3月20日 优先权日2012年3月20日
发明者叶键波, 王维, 钟锋浩, 韩笑 申请人:杭州长川科技有限公司