技术编号：5955533
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明关于一半导体组件测试方法，及一系统用以测试半导体组件，特别是一-动态-控制的测试系统，及/或一测试系统具有测试结果之自动化适应于集成电路之测试中。背景技术 半导体组件，例如对应集成(模拟及/或数字)计算机电路，半导体存储器组件，例如功能性存储器组件(PLAs，PALs，等等)及桌上存储器组件(例如ROMs或者RAMs，特别是SRAMs及DRAMs)在制造程序期间系易受到大量测试。对于许多(一般相似的)半导体组件之同时制造，一所谓的晶片(即单晶硅之一薄...
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