技术编号：5960110
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体器件测试技术，特别涉及用于测试作为半导体集成电路建立的存储器的内置自测试(BIST)。背景技术 日本未审专利公报No.平11(1999)-329000介绍了具有BIST电路的半导体集成电路，通过指令定序器和内部时钟产生电路可以高速地处理。该基于定序器的BIST技术受到测试序列的可获得的数量和类型的限制，因此不覆盖各种测试序列。日本未审专利公报No.平11(1998)-162600介绍了一种具有内置BIST电路的半导体存储器，该内置BIST电...
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