技术编号:5967164
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于集成电路,尤其是一种可程控的纳米级别集成电路内置自检控制器。背景技术高速扫描检测是对90nm以下芯片检测延迟缺陷的重要方法。为了使用检测器在检测过程中抓住延迟缺陷,我们必须采用同正常使用模式下一致的高速测试时钟。当这种高速测试时钟直接由检测器驱动时,提供这些高速时钟会产生如下一些困难(1)为了降低检测成本与生产成本的比例,传统的检测仪器或者低花费低容量的检测器仍然用于高速芯片的检测;(2)当时钟频率超过IOOMHz,为降低检测器之间的误差,接ロ延...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。