技术编号:5975198
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型是有关一种测试装置,特别是关于一种用于测试显示器光电特性的薄膜探针测试装置。背景技术随着科技发展,积体电路晶片的集积度更高,而封装技术亦必须配合晶片产品的发展趋势,纷纷走向高脚数(I/O)及轻薄短小的趋向。其中,显示器通常是由一显示面板及驱动IC所构成,目前驱动IC与显示面板的结合主要是利用卷带接合(Tape Carrier Package,TCP)、玻璃覆晶(Chip on Glass,COG)或薄膜覆晶(Chip on Film,COF)等封...
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