专利名称：薄膜探针测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关一种测试装置，特别是关于一种用于测试显示器光电特性的薄膜探针测试装置。
背景技术：
随着科技发展，积体电路晶片的集积度更高，而封装技术亦必须配合晶片产品的发展趋势，纷纷走向高脚数(I/O)及轻薄短小的趋向。其中，显示器通常是由一显示面板及驱动IC所构成，目前驱动IC与显示面板的结合主要是利用卷带接合(Tape Carrier Package，TCP)、玻璃覆晶(Chip on Glass，COG)或薄膜覆晶(Chip on Film，COF)等封装技术，而在显示器封装的领域中，测试工作更是扮演了相当重要的角色。
以COG封装型显示器为例，如图1所示，是为一显示器1及其驱动连接线路18的示意图，驱动连接线路18连设有一接点19。已知测试装置是如图2所示，包括一压著平台10，在其下方设有一线路转换板12，在线路转换板12上设有复数导线(图中未示)以连接至一测试机台14，在压著平台10下方设有一测试薄膜16，同时参阅图3所示，在测试薄膜16的下表面凸设有复数个对应于显示器1驱动连接线路18的接点19的电路接点20，以便由压著平台10的下压而使测试薄膜16的电路接点20与接点19相接触而形成电连接，进而来测试此显示器1的光电特性。
其中，位于测试薄膜16表面的每一电路接点20必须各拉引-测试线路22以连接至线路转换板12，才能使整个测试装置形成电性相连；然而，一般单颗闸极驱动IC(Gate Driver IC)接脚数为256pin，源极驱动IC(Source Driver IC)接脚数更高达384Pin，由于接脚数多，测试薄膜16的空间有限，使得测试线路22由测试薄膜16的电路接点20引出时，在布局(layout)上十分困难。
有监于此，本实用新型是针对上述的困扰，提出一种薄膜探针测试装置的改良设计，以克服已知缺点。
实用新型内容本实用新型的主要目的，是在提供一种薄膜探针测试装置，由弯曲薄膜的设计，使测试线路可由压著平台上方空间顺利拉引至信号输入输出端，利用简单的设计即可解决已知测试线路不易布局的问题。
本实用新型的另一目的，是在提供一种薄膜探针测试装置，不但测试结构单纯、维修容易，且可简化测试线路以及不需浪费时间于拉引测试线路上，进而可达到降低测试成本及提升测试效率的功效。
本实用新型的再一目的，是在提供一种薄膜探针测试装置，具有与待测元件绝佳的接触性且不损伤待测元件导电接点的优点。
根据本实用新型，一种薄膜探针测试装置，用以测试一待测物，且该待测物是具有复数导电接点，其特征在于，该薄膜探针测试装置包括一压著平台，其是位于该待测物的上方；一薄膜，其是沿着该压著平台的表面延伸而挠曲形成ㄈ字型，且该薄膜在位于该压著平台下表面的部位是朝下凸设有复数个与该等导电接点相对应的探针接点，每一该探针接点各拉引出一导电连线延伸至该压著平台上表面的薄膜部位；以及复数导电端点，其是设置在位于该压著平台上表面的该薄膜表面且位于每一该导电连线的终点上，以供连接至一信号输入输出端。
其中，还包括一线路转换板，在其一表面上设有复数导线，且每一该导线的一端是各连接每一该导电端点，而另一端供连接至该信号输入输出端。
其中，该薄膜是由挠性材质所构成。
其中，每一该探针接点的横截面是为半圆形。
其中，该等探针接点是由弹性导电材质所构成。
底下由具体实施例配合所附的图式详加说明，当更容易了解本实用新型的目的、技术内容、特点及其所达成的功效。
图1为已知显示器及其驱动连接线路的示意图；图2为已知薄膜测试装置的示意图；
图3为已知薄膜测试装置的测试薄膜的仰视图；图4为本实用新型薄膜探针测试装置的示意图；图5为本实用新型的薄膜展开示意图；图6为本实用新型薄膜的探针接点与显示器驱动连接线路的导电接点接触的侧视图。
具体实施方式
本实用新型的测试装置是由一薄膜与显示器驱动连接线路的导电接点相接触形成电性相接，以进行测试，同时利用薄膜的弯曲设计使测试线路的布局空间加大许多，而可轻易拉引至信号输入输出端。
本实用新型的结构示意图如图4所示，一薄膜探针测试装置30包括一压著平台32，其是位于一待测显示器驱动连接线路34的上方；一挠性材质的薄膜36沿著压著平台32的下表面延伸经由压著平台32侧缘而再延伸至其上表面进而挠曲形成ㄈ字型，且薄膜36在位于压著平台32下表面的部位是朝下凸设有复数个与待测显示器驱动连接线路34的导电接点35相对应的探针接点38，同时参阅图5所示，其是为薄膜36展开摊个后的示意图，探针接点38是由为弹性导电材质所构成，每一该探针接点38各拉引出一导电连线40延伸至压著平台32上表面的薄膜36上表面，且在每一该导电连线40的终点上各设有一导电端点42，以供连接至一线路转换板44，其中，该等导电连线40的拉引即为测试线路的布局；在线路转换板44的上表面设有复数导线(图中未示)，且每一该导线的一端是各连接至每一该导电端点42，而另一端供连接至一信号输入输出端46。
本实用新型薄膜36的该等探针接点38与待测显示器驱动连接线路34的导电接点接触的侧视图如图6所示，每一探针接点38的横截面是为半圆形，且由于其是为弹性导电材质，故具有绝佳的接触性且不损伤显示器驱动连接线路34上的导电接点的优点。
当使用此薄膜探针测试装置30进行测试时，是利用机械手臂夹持待测显示器到定位，压著平台32往下压，使薄膜36上的每一探针接点38与待测显示器驱动连接线路34上相对应的每一导电接点相接触以形成电连接，以使信号输入输出端46得以传送测试信号经由线路转换板44透过薄膜36的媒介将该测试信号传送至待测显示器驱动连接线路34上，以便进行光电特性的测试，经测试后回传信号至信号输入输出端46，以再进行进一步的筛检。
本实用新型提供的薄膜探针测试装置，利用弯曲薄膜的设计，使测试线路可由压著平台上方空间顺利拉引至信号输入输出端，以解决已知技术测试线路布局困难的缺点及不便，故本实用新型不但具有测试结构翠纯、维修容易的优点，且可简化测试线路及不需浪费时间于拉引测试线路上，进而可达到降低测试成本及提升测试效率的功效。
以上所述是由实施例说明本实用新型的特点，其目的在使熟悉该技术者能了解本实用新型的内容并据以实施，而非限定本实用新型的专利范围，凡其他未脱离本实用新型所揭示的精神所完成的等效修饰或修改，仍应包含在以下所述的申请专利范围中。
权利要求1.一种薄膜探针测试装置，用以测试一待测物，且该待测物是具有复数导电接点，其特征在于，该薄膜探针测试装置包括一压著平台，其是位于该待测物的上方；一薄膜，其是沿着该压著平台的表面延伸而挠曲形成ㄈ字型，且该薄膜在位于该压著平台下表面的部位是朝下凸设有复数个与该等导电接点相对应的探针接点，每一该探针接点各拉引出一导电连线延伸至该压著平台上表面的薄膜部位；以及复数导电端点，其是设置在位于该压著平台上表面的该薄膜表面且位于每一该导电连线的终点上，以供连接至一信号输入输出端。
2.如权利要求1所述的薄膜探针测试装置，其特征在于，其中，还包括一线路转换板，在其一表面上设有复数导线，且每一该导线的一端是各连接每一该导电端点，而另一端供连接至该信号输入输出端。
3.如权利要求1所述的薄膜探针测试装置，其特征在于，其中，该薄膜是由挠性材质所构成。
4.如权利要求1所述的薄膜探针测试装置，其特征在于，其中，每一该探针接点的横截面是为半圆形。
5.如权利要求1所述的薄膜探针测试装置，其特征在于，其中，该等探针接点是由弹性导电材质所构成。
专利摘要本实用新型提供一种薄膜探针测试装置，包括一压着平台，其是位于一待测显示器驱动连接线路的上方，一薄膜沿着该压著平台的表面延伸而挠曲形成ㄈ字型，且该薄膜在位于压著平台下表面的部位是朝下凸设有复数个与待测显示器驱动连接线路的导电接点相对应的探针接点，每一该探针接点各拉引出一导电连线延伸至该压著平台上表面的薄膜部位，且在每一该导电连线的终点上各设有一导电端点，以供连接至一信号输入输出端。故本实用新型由弯曲薄膜的设计，不需复杂的结构即可轻易使测试线路布局至信号输入输出端。
文档编号G01R31/28GK2684206SQ20042000495
公开日2005年3月9日 申请日期2004年3月10日 优先权日2004年3月10日
发明者柯颖和 申请人:旭贸股份有限公司