技术编号:5988284
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型大体而言涉及用于对例如IXD显示器及OLED显示器等电子器件进行光学检验的方法及系统,更具体而言,涉及提供用于透过光学薄膜滤色片及其重叠部分进行观察的系统及方法。背景技术液晶显示器(IXD)面板包含具有与电场相关的光调制特性的液晶。液晶显示器面板最常用于在各种器件(自传真机、移动电话、平板计算机及膝上型计算机屏幕一直到大屏幕高清晰度电视)中显示图像及其他信息。主动矩阵式LCD面板是由如下若干功能层组成的复合分层式结构一或多层偏光膜;TFT玻璃基板...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。