技术编号:5998576
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及手机测试装置,特别涉及一种用于手机外壳镀膜后不导电性能的测试治具。背景技术传统的手机外壳镀膜后(NCVM)不导电的测试方法是用膜厚仪测膜厚,不精确也不方便。通过对于手机外壳镀膜后(NCVM)不导电的测试,来满足无线通讯产品的正常使用, 除此之外,还要保证“金属质感”这一重要的外观要求。因此,这一测试环节很重要,这就需要设计一种辅助测试工具来满足手机外壳镀膜后(NCVM)不导电性能的测试要求。发明内容鉴于现有技术状况,本实用新型的目的是设计一种...
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