技术编号：6004091
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及。 背景技术作为测试半导体电路等被测试器件的测试装置，已知有配置了多个测试模块、测试总线以及测试控制器的装置(例如参照专利文献1)。测试控制器通过测试总线控制多个测试模块，测试被测试器件。专利文献1特开平9-89999号公报由于多个测试模块测试的是同一个被测试器件，因而最好同步动作。在现用的测试装置中，测试控制器控制着多个测试模块的同步动作。这样就产生了测试控制器中的处理时间，因而并不理想。发明内容因此本说明书中包含的技术革新(新发明)的(一)侧...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。