技术编号:6007497
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于检测可控硅的仪器,具体的说是一种复用小功率可控硅检测仪。背景技术在工业生产,科学实验以及家用电器中,广泛应用了可控硅作为电路保护的执行元件,但在实际运行中,如果可控硅出现损坏或短路,就会直接影响电器设备的正常运行,甚至会造成电器设备的严重损毁,为此对可控硅的适时检测,非常重要。发明内容本发明的目的在于提供一种可控硅检测仪,体积小、重量轻、检测灵敏,非常适合作为必备的电器检修工具使用。本发明包括集成电路插座和R1、R2电阻、发光二极管以及R...
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