专利名称：一种可控硅检测仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于检测可控硅的仪器，具体的说是一种复用小功率可控硅检测仪。
背景技术：
在工业生产，科学实验以及家用电器中，广泛应用了可控硅作为电路保护的执行元件，但在实际运行中，如果可控硅出现损坏或短路，就会直接影响电器设备的正常运行，甚至会造成电器设备的严重损毁，为此对可控硅的适时检测，非常重要。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可控硅检测仪，体积小、重量轻、检测灵敏，非常适合作为必备的电器检修工具使用。本发明包括集成电路插座和R1、R2电阻、发光二极管以及R3、R4电阻。所采用的技术方案在于在可插入可控硅的集成电路插座的三个引脚上分别采用导线连接有一组显示电路和一组触发电路以及一个电池组。电池组用于整套检测仪器的电源供给，电压为直流6V即可。上述技术方案中所述显示电路是通过导线连接的Rl电阻和发光二极管以及R2电阻和发光二极管。发光二极管可为红色和绿色分别连接。所述触发电路是通过导线连接的R3电阻和R4电阻，其尾端通过导线与发光二极管和电池组连接相通。在集成电路插座与触发电路之间有一个SB轻触式开关。在集成电路插座与显示电路和触发电路以及电池组之间有S1-3三刀双掷选择开关。所述电池组装有S2电源开关。本发明通过上述技术方案，由于Rl、R2电阻和发光二极管构成显示电路，轻触式开关SB和R3、R4电阻构成触发电路，集成电路插座可用来插入需检测的可控硅，并采用电池组作为供给检测电源，整体结构轻巧灵敏，可快速检测鉴别可控硅的性能好坏，有利提高检修工作效率和确保电器设备的正常运行。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详述。附图为本发明连接结构示意图。图中1、集成电路插座，2、电池组，3、RU R2电阻，4、发光二极管，5、SB轻触式开关，6、R3、R4电阻，7、Sl-3三刀双掷选择开关，8、S2电源开关，9、导线。
具体实施方式
附图实施例所示在可插入可控硅的集成电路插座I的三个引脚上分别采用导线9连接有一组显示电路和一组触发电路以及一个电池组2。显示电路是通过导线9连接的Rl电阻3和发光二极管4以及R2电阻3和发光二极管4。触发电路是通过导线9连接的R3电阻6和R4电阻6，其尾端通过导线与发光二极管4和电池组2连接相通。在集成电路插座I与触发电路之间有一个SB轻触式开关5。在集成电路插座I与显示电路和触发电路以及电池组2之间有S1-3三刀双掷选择开关7。电池组2装有电源开关8。本发明应用时，当S1-3三刀双掷功能选择开关扳到触点I的位置时作单向型(SCR)测试用。先把可控硅的各引脚分别插入对应的插座孔，单向型(SCR)的标注是A、K、G0接通电源开关S2，SCR的AK极间便加上有正向电压；此时红色发光二极管LEDl应该熄灭。如果LEDl点亮，说明SCR的AK极间已短路。再按一下微动开关SB给SCR的G极外加一个触发信号，在正常情况下红色发光二极管LEDl应该立即点亮且当微动开关SB断开后红色发光二极管LEDl始终持续点亮，即表明SCR性能是好的，否则是坏的。依此法将S1-3三刀双掷功能选择开关扳到触点3的位置时作双向型(BCR)测试 用，把可控硅的各引脚分别插入对应的插座孔，双向型(BCR)的标注是T1T2G,接通电源开关S2，BCR的T1T2极间便加上有正向电压；此时绿色发光二极管LED2应该熄灭。如果LED2点亮，说明BCR的T1T2极间已短路。再按一下微动开关SB给BCR的G极外加一个触发信号，在正常情况下绿色发光二极管LED2应该立即点亮且当微动开关SB断开后绿色发光二极管LED2始终持续点亮，即表明BCR性能是好的，否则是坏的。绿色发光二极管LED2点亮或熄灭情形与红色发光二极管LEDl相同。
权利要求
1.一种可控硅检测仪，包括集成电路插座(I)和R1、R2电阻(3)、发光二极管⑷以及R3、R4电阻￠)，其特征在于在可插入可控硅的集成电路插座(I)的三个引脚上分别采用导线(9)连接有一组显示电路和一组触发电路以及一个电池组(2)。
2.根据权利要求I所述的一种可控硅检测仪，其特征在于所述显示电路是通过导线(9)连接的Rl电阻(3)和发光二极管⑷以及R2电阻(3)和发光二极管⑷。
3.根据权利要求I所述的一种可控硅检测仪，其特征在于所述触发电路是通过导线(9)连接的R3电阻(6)和R4电阻(6)，其尾端通过导线与发光二极管(4)和电池组(2)连接相通。
4.根据权利要求I所述的一种可控硅检测仪，其特征在于在集成电路插座(I)与触发电路之间有一个SB轻触式开关(5)。
5.根据权利要求I所述的一种可控硅检测仪，其特征在于在集成电路插座(I)与显示电路和触发电路以及电池组(2)之间有S1-3三刀双掷选择开关(7)。
6.根据权利要求I所述的一种可控硅检测仪，其特征在于所述电池组(2)装有电源开关⑶。
全文摘要
本发明提供一种可控硅检测仪，在可插入可控硅的集成电路插座上分别连接有显示电路和触发电路以及电池组，显示电路由R1电阻、R2电阻和发光二极管组成，触发电路由R3电阻和R4电阻组成，使用时，将需要检测的可控硅插入集成电路插座，接通电源后，可通过发光二极管的显示来识别可控硅的正常或损坏，具有体积小、重量轻，可携带和检测效果好的特点，可作为工业和科学实验以及家用电器中普及使用。
文档编号G01R31/02GK102735952SQ201110083638
公开日2012年10月17日 申请日期2011年3月31日 优先权日2011年3月31日
发明者李国彪 申请人:襄樊学院