技术编号:6007833
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属光学测量用具,具体涉及一种以使用光学测量方法为特征的可实现高精度值的测距仪。背景技术公知技术中,光学测距仪的测量值和精度靠测微计调整光路及微分计上的刻度示数来确定。例如中国专利申请CN1055245U公开的“电线高度测距仪”,此技术方案靠测微计调整光路及微分计上的刻度示数来实现的,但是由于微分计的精度有限在一定程度上影响了测量值的精度,同时也限制了远距离的测量。给有特殊要求的测量工作带来不便。发明内容本实用新型的目的是要提供一种结构简单,操作容...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。