专利名称：一种高精度测距仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属光学测量用具，具体涉及一种以使用光学测量方法为特征的可实现高精度值的测距仪。
背景技术：
公知技术中，光学测距仪的测量值和精度靠测微计调整光路及微分计上的刻度示数来确定。例如中国专利申请CN1055245U公开的“电线高度测距仪”，此技术方案靠测微计调整光路及微分计上的刻度示数来实现的，但是由于微分计的精度有限在一定程度上影响了测量值的精度，同时也限制了远距离的测量。给有特殊要求的测量工作带来不便。
发明内容
本实用新型的目的是要提供一种结构简单，操作容易能够实现高精度值的测距仪。
本实用新型采取如下技术方案。一种高精度测距仪，包括有定位器、搜寻器，本实用新型还设置定位器安装在主轴上并可与其相对运动，搜寻器安装在主轴上可绕固定栓转动。定位器和搜寻器上安装望远镜和红外线发射器，主轴上安装有动尺可在主轴上运动。在主轴上设置I刻度区和II刻度区，在动尺上设置III刻度区。
本实用新型的使用方法使用方法是这样的测量长度Y时，转动搜寻器，调整搜寻器、主轴和动尺构成的三角形中III刻度区中显示的长度与II刻度区中显示的长度之比为一合适的值K，用定位器锁定目标。移动主轴使搜寻器能捕捉到被定位器锁定的目标，此时I刻度区中显示出长度值X，由图3中相似三角形可知被测长度Y的值为Y＝KX，配合申请号为03214773.2的无限精度测量卡尺测量X的值，从理论上讲能在很大程度上提高被测距离Y的精度。
图1为测距仪结构示意图图2是图1的A-A剖面结构示意图图3为测距仪的测量原理图图中，1.定位器，2.搜寻器，3.动尺，4.主轴，5.III刻度区，6.II刻度区，7.固定栓，8.I刻度区，9.望远镜，10.红外线发射器
以下结合附图对本实用新型的实施例作详细描述，实施例是用来说明本实用新型的，而不是对本实用新型进行任何限制。
具体实施方式
一种高精度测距仪，包括有定位器、搜寻器，其特征是定位器(1)安装在主轴(4)上并可与其相对运动，搜寻器(2)安装在主轴(4)上可绕固定栓(7)转动。
定位器(1)和搜寻器(2)上安装望远镜(9)和红外线发射器(10)，主轴(4)上安装有动尺(3)可在主轴(4)上运动。
主轴(4)上设置I刻度区(8)和II刻度区设置(6)，在动尺(3)上设置III刻度区(5)。
在使用时，转动搜寻器，调整搜寻器、主轴和动尺构成的三角形中III刻度区中显示的长度与II刻度区中显示的长度之比为一合适的值K。根据被测距离Y的远近，可用定位器(1)中红外线发射器(10)发出的光线与搜寻器(2)中红外线发射器(10)发出的光线交于目标或定位器(1)中望远镜(9)与搜寻器(2)中望远镜(9)锁定目标。当I刻度区(8)上显示出长度值X后，配合申请号为03214773.2的无限精度测量卡尺测量X的值，由图3中相似三角形可知被测长度Y的值为Y＝KX，从理论上讲能在很大程度上提高被测距离Y的精度。
权利要求1.一种高精度测距仪，包括有定位器、搜寻器，其特征是定位器(1)安装在主轴(4)上并可与其相对运动，搜寻器(2)安装在主轴(4)上可绕固定栓(7)转动。
2.根据权利要求1所述的一种高精度测距仪，其特征是定位器(1)和搜寻器(2)上安装望远镜(9)和红外线发射器(10)，主轴(4)上安装有动尺(3)可在主轴(4)上运动。
3.根据权利要求1或2所述的一种高精度测距仪，其特征是在主轴(4)上设置I刻度区(8)和II刻度区(6)，在动尺(3)上设置III刻度区(5)。
专利摘要本实用新型属光学测量用具，具体涉及一种以使用光学测量方法为特征的可实现高精度值的测距仪。包括有定位器、搜寻器，其特征是定位器(1)安装在主轴(4)上并可与其相对运动，搜寻器(2)安装在主轴(4)上可绕固定栓(7)转动。定位器和搜寻器上安装望远镜和红外线发射器，用定位器和搜寻器锁定目标，通过测量主轴上I刻度区所显示的长度，可得到所测距离的值。本实用新型适用于较高精度以及特殊条件下作业。
文档编号G01C3/00GK2619238SQ0326171
公开日2004年6月2日 申请日期2003年5月21日 优先权日2003年5月21日
发明者逄锦伦 申请人:逄锦伦