技术编号：6019521
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于工程测量测绘，具体涉及一种激光测距、测高装置。 背景技术测距、测高装置是工程上常用的测绘仪器，现有测量技术一般为直接测量法，测量环境局限性较大，难以实现对无法直接接触的两个目标之间距离测量。传统的测距、测高装置需固定一个测量参考点才能完成测量，如超声波测距，传统的激光测距等，还会受到测量环境地理条件等因素的影响。发明内容为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种激光测距、测高装置， 用于工程上复杂环境下的间接的测量测绘，以解决远距离目标...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。