技术编号:6025885
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及开关寿命测试方法,尤其涉及一种。背景技术温度保护开关作为一种电子元器件的保护神,其发展越来越迅速,运用的场合越来越广泛。温度保护开关一般采用双金属片作为感温组件的温控器,电子元器件正常工作时,双金属片处于自由状态,触点处于闭合状态,当温度达到动作温度时,双金属片受热产生内应力而迅速动作,打开触点,切断电路,从而起到控温作用。当电子元器件冷却到复位温度时,触点自动闭合,恢复正常工作状态。随着温度保护开关的广泛应用,在短时间内筛选出合格的温度保护开关...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。