技术编号：6028820
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种芯片测试分类机，尤其是指一种适用于可模拟系统测试的芯片测试分类机。背景技术请参阅图l，是公知的光驱系统测试箱的立体图。如图所示，公知的芯片系统级低温测试方式(system level test, SLT)，是将组装完成的待测芯片91、系统测试电路板92、光驱93、及电源模块一同放入类似冰箱的低温测试箱体9中，再以-20。C的低温冷冻。其后，再将待测芯片91、系统测试电路板92、光驱93取出箱体外与外部的计算机联机进行系统测试，以判断待测芯片...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。