技术编号:6041266
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测试装置,尤其是电容、电阻等片式电子元件的性能测试装置。背景技术为了提高电子器件的可靠性,必须对元器件在老化过程中进行功能性测试,老化在高温室(通常125°C左右)内进行,给电子器件加上直流电压,元件性能参数数据采用仪表触发方式,每触发一个电子元件,参数形成,根据试验前后采集的数据进行电子元件性能分析。现有的测试方法有如下两种一种是采用直接焊接的方式。如图1所示,根据不同规格的电子元件制作不同型号的PCB板I',在焊接前分别测试每个电子元...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。