技术编号:6045239
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及半导体电子器件封装技术,尤其是指TO-263封装产品电参数手动测试装置,主要包括电路板、与电路板上方连接的测试座、与电路板下方通过若干电线连接的若干BNC接头,所述测试座上设有与TO-263产品尺寸相吻合的插入口,测试座中设有对应TO-263产品的C极(载芯板背面)的第一金属片、两个对应TO-263产品的B、E极管脚且并列的第二金属片,且第一金属片与两个第二金属片末端通过电路板与若干带有BNC接头的电线相连接。本实用新型专用于TO-263产品...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。