技术编号：6050077
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型公开了一种测试装置，用于电容耐久性的测试，包括第一支路，所述第一支路包括控制开关和二极管，所述控制开关、二极管和被测电容依次串联在电路中，所述控制开关的第一端连接电源的正极或负极，所述控制开关的第二端依次串联所述二极管和被测电容后连接至电源的负极或正极，所述二极管和被测电容的相应公共端连接至所述控制开关的第三端；所述控制开关的第一端与第二端导通时，所述被测电容充电；所述控制开关的第一端与第三端导通时，所述被测电容放电。其防止了被测电容间的相互干涉...
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