测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种测试装置，用于电容耐久性的测试，包括第一支路，所述第一支路包括控制开关和二极管，所述控制开关、二极管和被测电容依次串联在电路中，所述控制开关的第一端连接电源的正极或负极，所述控制开关的第二端依次串联所述二极管和被测电容后连接至电源的负极或正极，所述二极管和被测电容的相应公共端连接至所述控制开关的第三端；所述控制开关的第一端与第二端导通时，所述被测电容充电；所述控制开关的第一端与第三端导通时，所述被测电容放电。其防止了被测电容间的相互干涉，避免了对故障电容的错误判断，确保了测试结果的准确性与有效性。
【专利说明】测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电容的耐久性测试，特别是涉及一种提高电解电容耐久性测试结果正确性与有效性的测试装置。
【背景技术】
[0002]目前进行电容普通耐久性测试时，通常将额定电压相同的电容按照不同的生产厂家并联后接入直流电源进行试验，因此，存在同一电源连接多个厂家、多个规格的电容进行测试。图1为传统测试装置的电路图，A厂家、B厂家和C厂家生产的电容并联后接入VCC电源。测试过程中，当异常情况发生时，假定A厂家的电容发生短路被击穿失效时，未失效的B厂家和C厂家的电容均可通过短路的A厂家的电容放电，短路放电时会产生较大的电流，该电流会反作用在B厂家和C厂家的电容上，此时极易导致B厂家和C厂家的电容发生连环击穿而导致失效。在上述情况下，很难定位故障的电容，容易造成错误判断，降低了试验结果的准确性和有效性。
实用新型内容
[0003]基于上述问题，本实用新型提供一种防止被测电容间相互干涉，避免误判，提高试验准确性与有效性的电容耐久性测试装置。
[0004]为达到技术目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0005]一种测试装置，用于电容耐久性的测试，包括第一支路，所述第一支路包括控制开关和二极管，所述控制开关、二极管和被测电容依次串联在电路中，所述控制开关的第一端连接电源的正极或负极，所述控制开关的第二端依次串联所述二极管和被测电容后连接至电源的负极或正极，所述二极管和被测电容的相应公共端连接至所述控制开关的第三端；
[0006]所述控制开关的第一端与第二端导通时，所述被测电容充电；所述控制开关的第一端与第三端导通时，所述被测电容放电。
[0007]在其中一个实施例中，所述控制开关为单刀双掷开关。
[0008]在其中一个实施例中，所述二极管的数量为两个以上，两个以上所述二极管并联设置。
[0009]在其中一个实施例中，所述二极管和被测电容的相应公共端串联电阻连接至所述控制开关的第二端。
[0010]在其中一个实施例中，所述第一支路的数量为多个，多个第一支路并联设置在电路中，每个所述第一支路对应一个被测电容。
[0011]在其中一个实施例中，所述电源还连接有阻抗电路。
[0012]本实用新型的测试装置，将二极管与被测电容串联，由于二极管的单向导电性，在正向偏置时电阻很小，反向偏置时则具有很大电阻，测试过程中即使某一电容出现故障造成短路，也不会影响到其它电容，该测试装置防止了被测电容间的相互干涉，避免了对故障电容的错误判断，确保了测试结果的准确性与有效性。【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1为传统测试装置的电路图；
[0014]图2为本实用新型测试装置一实施例的电路图。
【具体实施方式】
[0015]下面将结合实施例来详细说明本实用新型。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0016]本实用新型提供一种测试装置，用于电容耐久性的测试，尤其适用于额定电压相同的电解电容耐久性的测试，该装置有效避免了被测电容间的相互干涉，保证了测试结果的准确有效。
[0017]参见图2，对A、B、C三个厂家生产的电容进行测试。本实用新型的测试装置包括第一支路100,优选地,作为一种可实施方式,第一支路100的数量为多个,多个第一支路100并联设置在电路中，每个第一支路100均对应一个被测电容。其中，第一支路100包括控制开关和二极管。控制开关、二极管和被测电容依次串联在电路中，控制开关的第一端Ki连接电源的正极或负极，控制开关的第二端K2依次串联二极管和被测电容后连接至电源的负极或正极；二极管和被测电容的相应公共端连接至控制开关的第三端K3。
[0018]需要说明的是，本实用新型中，二极管相对于电源为正向偏置，即二极管的正极连接电源的正极，二极管的负极连接电源的负极，在被测电容充电的过程中，二极管电阻很小，几乎为O。由于电容的外壳一般为金属材料,容易积聚感应电荷，因此，在测试过程中，将电容的一端接地，以增加测试过程的安全性。
[0019]当控制开关的第一端Kl与第二端K2导通时，电路中有电流流通，被测电容两端分别获得数量相等的相反电荷，此时电容充电，其两端的电位差逐渐增大，一旦电容两端电压增大至与电源电压相等时，电容充电完毕，电路中没有电流流动；当控制开关的第一端Kl与第三端K3导通时，被测电容进行放电，其两端的电压会逐渐下降为O。
[0020]在耐久性的测试过程中，由于二极管的单向导电性，当异常情况发生时，如A厂家的被测电容发生短路击穿失效时，由于二极管的单向导电性，其在反向偏置时电阻很大，一般情况下看作断路，因而，B厂家和C厂家的被测电容不能通过A厂家的故障电容进行放电，各个厂家生产的电容间相互独立，避免了连环击穿现象的发生，确保了测试结果的准确性及有效性。
[0021]作为一种可实施方式，二极管和被测电容的相应公共端串联电阻(图未示)连接至控制开关的第二端K2。当被测电容充电完毕后，其两端的电压较大，若电路中电阻过小，放电过程中会产生较大电流，从而对电路造成损伤，通过串联电阻，能有效减小放电时电路中的电流，从而保护了电路。较优地，电源还连接有阻抗电路(图未示)，阻抗电路减小了被测电容的放电速度，进一步减小了放电电流，增加了测试的安全可靠性。
[0022]较优地，作为一种可实施方式，控制开关为单刀双掷开关。在被测电容的充电过程中，控制开关的第一端Kl为电流输入端，将单刀掷向控制开关的第二端K2，电路导通，电流经二极管流向被测电容，电流由电源的正极经二极管流向被测电容，电荷在被测电容上积聚，被测电容进行充电；测试完毕后，将单刀掷向单刀双掷开关的第三端K3，此时被测电容与电源断开，在电路中放电。此外，控制开关也可选择双刀双掷开关，还可选择两个普通开关进行控制，与之相比，单刀双掷开关节约了成本，简化了连接电路，同时控制更加方便。
[0023]较优地，作为一种可实施方式，二极管的数量为两个以上(包括两个)，两个以上的二极管并联设置。如图2所示，为两个二极管的并联，当其中一个二极管失效时，电流仍能从另一个二极管处传输到被测电容，保证了电路的有效连接。
[0024]上述的测试装置中，二极管优选为硅二极管，其具有较低的价格与优异的单向导电性；更优地，硅二极管的击穿电压大于被测电容的额定电压。其避免了被测电容放电时由于操作错误而击穿二极管，进而导致电路失效的问题。
[0025]需要说明的是，图2中同一厂家的被测电容可为一个，也可为多个，多个被测电容并联，且每个被测电容均对应一个第一支路100 ;且生产厂家不局限于A、B、C三厂，可并联更多厂家生产的电容。
[0026]以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1.一种测试装置，用于电容耐久性的测试，其特征在于: 包括第一支路，所述第一支路包括控制开关和二极管，所述控制开关、二极管和被测电容依次串联在电路中，所述控制开关的第一端连接电源的正极或负极，所述控制开关的第二端依次串联所述二极管和被测电容后连接至电源的负极或正极，所述二极管和被测电容的相应公共端连接至所述控制开关的第三端； 所述控制开关的第一端与第二端导通时，所述被测电容充电；所述控制开关的第一端与第三端导通时，所述被测电容放电。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于: 所述控制开关为单刀双掷开关。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于: 所述二极管的数量为两个以上，两个以上所述二极管并联设置。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于: 所述二极管和被测电容的相应公共端串联电阻连接至所述控制开关的第二端。
5.根据权利要求1-4任一项所述的测试装置，其特征在于: 所述第一支路的数量为多个，多个第一支路并联设置在电路中，每个所述第一支路对应一个被测电容。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于: 所述电源还连接有阻抗电路。
【文档编号】G01R31/00GK203811706SQ201420131440
【公开日】2014年9月3日 申请日期:2014年3月21日 优先权日:2014年3月21日
【发明者】钱正君, 高伟 申请人:珠海格力电器股份有限公司