技术编号:6073889
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型公开了一种用于X射线衍射测定的密封样品架,其特征在于,包括加样口、样品槽、加样漏斗、密封塞;所述样品槽开设于所述密封样品架的上半部,所述加样口设置于所述样品槽的顶端或侧面,所述加样漏斗将环境敏感样品从所述加样口加入到所述样品槽中,当所述样品槽中的环境敏感样品填满后,用所述密封塞等封好所述加样口。专利说明一种用于X射线衍射测定的密封样品架 [0001]本实用新型涉及密封样品架,特别是涉及一种用于环境敏感样品粉末X射线衍射测定时使用的密封样品架...
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