技术编号：6077486
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型提供一种测试装置，其包括多个测试点、多个反馈点、基座及信号发生器。多个测试点与多个反馈点均位于TFT基板上。基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，多个反馈探针与多个测试探针分别与多个反馈点和多个测试点一一对应。信号发生器包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，判断信号输出端、多个反馈探针、多个反馈点及信号接收端组成了反馈回路。本实用新型还提供一种测试系统。本实用新型的测试装置及包括其的测试系统，根据反馈回路的导通来判断多个测试探针与多个测...
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