一种测试装置及包括其的测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种测试装置，其包括：多个测试点、多个反馈点、基座及信号发生器。多个测试点与多个反馈点均位于TFT基板上。基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，多个反馈探针与多个测试探针分别与多个反馈点和多个测试点一一对应。信号发生器包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，判断信号输出端、多个反馈探针、多个反馈点及信号接收端组成了反馈回路。本实用新型还提供一种测试系统。本实用新型的测试装置及包括其的测试系统，根据反馈回路的导通来判断多个测试探针与多个测试点是否一一准确对位，避免了TFT基板电极烧坏，成本低。
【专利说明】一种测试装置及包括其的测试系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及液晶显示【技术领域】，尤其涉及一种测试装置及包括其的测试系统。
【背景技术】
[0002]由于液晶显示器(Liquid Crystal Display, LCD)，相较于传统的阴极射线管具有节能、轻薄等优点，IXD被广泛应用于监视面板、手机面板等电子领域。
[0003]通常IXD的TFT基板上设置有像素电极，且随着用户对显示画面高清晰度的要求，TFT基板上设置的像素电极分布密集，因此各像素电极之间容易发生短路或者断路。
[0004]现有技术中采用Cell手动点灯方法来检测TFT基板上的像素电极之间是否短路或者断路。Cell手动点灯方法指的是工作人员将要测试的TFT基板放置在工作台上，将机台上的测试探针下压使其与TFT基板上的测试点接触，然后信号发生器向测试探针发射测试信号，测试探针接收测试信号，并将其输送至TFT基板，此时观察LCD面板的显示画面，若LCD面板显示画面异常，则TFT基板的像素电极之间存在短路或是断路。但是在Cell手动点灯方法中，由于探针的磨损以及工作人员在放置TFT基板过程中不小心造成的TFT基板偏移，将导致TFT基板的测试点与测试探针不能准确对位，进而将TFT基板的像素电极烧坏。此外，由于在探针下压过程中需要特殊机台进行操作，因此制作成本高。
[0005]因此，需要提供一种TFT基板电极的测试装置，其可以解决测试过程中TFT基板的测试点与测试探针能准确对位以及制作成本高的问题。
实用新型内容
[0006]鉴于以上问题，本实用新型提供一种测试装置，用于测试TFT基板上的电极，所述测试装置包括多个测试点、多个反馈点、基座及信号发生器。所述多个测试点均位于所述TFT基板上。所述多个反馈点均设置在所述TFT基板上。所述基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应，所多个测试探针与所述多个测试点一一对应，且所述多个反馈探针和所述多个测试探针通过基座联动的。所述信号发生器包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，所述判断信号输出端、所述多个反馈探针、所述多个反馈点及所述信号接收端组成了反馈回路。其中，所述判断信号输出端用于输出判断信号至一个反馈探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应电连接，所述反馈回路导通，所述测试信号输出端输出测试信号至所述多个测试探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点未一一对应电连接，所述反馈回路断开，所述测试信号输出端停止输出所述测试信号至所述多个测试探针。
[0007]本实用新型还提供一种测试系统，包括上述的测试装置，所述测试装置用于测试TFT基板上的电极，所述测试装置包括多个测试点、多个反馈点、基座及信号发生器。所述多个测试点均位于所述TFT基板上。所述多个反馈点均设置在所述TFT基板上。所述基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应，所多个测试探针与所述多个测试点一一对应。所述信号发生器包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，所述判断信号输出端、所述多个反馈探针、所述多个反馈点及所述信号接收端组成了反馈回路。其中，所述判断信号输出端用于输出判断信号至一个反馈探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应电连接，所述反馈回路导通，所述测试信号输出端输出测试信号至所述多个测试探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点未一一对应电连接，所述反馈回路断开，所述测试信号输出端停止输出所述测试信号至所述多个测试探针。
[0008]本实用新型的测试装置及包括其的测试系统，根据多个反馈点、多个反馈探针及信号发生器组成的反馈回路是否导通来判断多个测试探针与多个测试点是否一一准确对位，若反馈回路断开，则多个测试点与多个测试探针对位不准确，信号发生器停止发送测试信号至多个测试探针，进而避免了 TFT基板电极烧坏，且成本低。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的测试装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的【具体实施方式】做详细的说明。
[0011]图1为本实用新型的测试装置的结构示意图。如图1所示，测试装置包括多个并联的测试点10 (图中仅示出6个)、多个串联的反馈点12 (图中仅示出2个)、基座14及信号发生器16。多个测试点10与多个反馈点12均位于TFT基板(图中未示出)上，且基座14设置有联动的多个反馈探针18(图中仅示出2个)和多个测试探针20(图中仅示出6个)，且多个反馈探针18与多个反馈点12 —一对应，多个测试探针20与多个测试点10 —一对应。
[0012]信号发生器16包括测试信号输出端161、判断信号输出端162及信号接收端163，并且判断信号输出端162、多个反馈探针18、多个反馈点12及信号接收端163组成了反馈回路。其中，判断信号输出端162用于输出判断信号至一个反馈探针18，当多个反馈探针18与多个反馈点12 —一对应电连接，反馈回路导通，测试信号输出端161输出测试信号至多个测试探针20，当多个反馈探针18与多个反馈点12未一一对应电连接，反馈回路断开，测试信号输出端161停止输出测试信号至多个测试探针20。
[0013]基座14上设置有多个反馈探针18和多个测试探针20，反馈探针18和测试探针20是联动的，也就是说，当对TFT基板进行测试时，由于反馈探针18和测试探针20都分别嵌入在基座14上，只要基座14整体上与TFT基板没有精确对位，导致基座上的反馈探针18和测试探针20都会偏离TFT基板上的反馈点12和测试点10，从而保证测试探针10和反馈探针12的位置联动性。
[0014]在本实用新型的一实施方式中，多个反馈点12之间用导线120相互串联连接。
[0015]在本实用新型的一实施方式中，为了分别使得多个反馈点12与多个反馈探针18及多个测试点10与多个测试探针20之间的电连接性能好，因此多个反馈点12及多个测试点10均由金属材料构成。当然本领域技术人员可以理解的是多个反馈点12及多个测试点10也可以由具有导电性的其他材料构成，如氧化铟锡(Indium Tin Oxide, ITO))。
[0016]在本实用新型一实施方式中，测试装置还包括触发开关22，触发开关22位于信号发生器16的判断信号输出端162与反馈探针18之间，用以控制判断信号输出端162输出的判断信号是否传输至反馈探针18。
[0017]在本实用新型一实施方式中，多个反馈点12均为圆形，多个测试点10均为正方形，且多个反馈点12的面积均小于多个测试点10的面积，且多个反馈点12与多个测试点10位于同一水平线上，多个反馈探针18与多个测试探针20亦位于同一水平线上。当反馈点12的面积小于测试点10的面积时，由于多个反馈点12与多个测试点20位于同一水平面，且多个反馈探针18与多个测试探针20亦位于同一水平线上，则可以从多个反馈点12是否与多个反馈探针18接触来简单快速的判断出多个测试点10与多个测试探针20是否对位准确。当然本领域技术人员可以理解的是，多个反馈点12的形状也可以为正方形，多个反馈点12与多个测试点10不在同一水平线上，多个反馈探针18与多个测试探针20亦不在同一水平线上。
[0018]具体的，现以多个反馈点12与多个反馈探针18的数目均为两个为例来具体说明本实用新型的实施原理。
[0019]当信号发生器16的判断信号输出端162输出判断信号至多个反馈探针18中的一个反馈探针18，由于两个反馈点12之间用导线120连接，若两个反馈探针18分别与两个反馈点12对应电连接，则反馈回路导通，此时另一反馈探针18向信号发生器16的信号接收端163发送一个反馈信号，信号发生器16根据接收到的反馈信号控制测试信号输出端161输出测试信号至多个测试探针20。由于多个反馈点12与所述多个测试点10位于同一水平线上，且多个反馈探针18与多个测试探针20亦位于同一水平线上，当测试探针20发生偏移时，反馈探针18亦发生偏移，此时若两个反馈探针18没有与两个反馈点12对应电连接，则反馈回路断开，此时反馈探针18无法向信号发生器16发送反馈信号，信号发生器16的测试信号输出端161停止输出测试信号至多个测试探针20。
[0020]本实用新型还提供一种测试系统，其包括上述的测试装置，测试装置包括多个测试点10 (图中仅示出6个)、多个反馈点12 (图中仅示出2个)、基座14及信号发生器16。多个测试点10与多个反馈点12均位于TFT基板(图中未示出)上，且基座14设置有多个反馈探针18 (图中仅示出2个)和多个测试探针20 (图中仅示出6个)，且多个反馈探针18与多个反馈点12——对应，多个测试探针20与多个测试点10——对应。信号发生器16包括测试信号输出端161、判断信号输出端162及信号接收端163，并且判断信号输出端162、多个反馈探针18、多个反馈点12及信号接收端163组成了反馈回路。其中，判断信号输出端162用于输出判断信号至一个反馈探针18，当多个反馈探针18与多个反馈点12 —一对应电连接，反馈回路导通，测试信号输出端161输出测试信号至多个测试探针20，当多个反馈探针18与多个反馈点12未--对应电连接，反馈回路断开，测试信号输出端161停止输出测试信号至多个测试探针20。
[0021]本实用新型的测试装置及包括其的测试系统，根据多个反馈点12、多个反馈探针18及信号发生器16组成的反馈回路是否导通来判断多个测试探针20与多个测试点10是否一一准确对位，若反馈回路断开，则多个测试点10与多个测试探针20对位不准确，信号发生器16停止发送测试信号至多个测试探针20，进而避免了 TFT基板电极烧坏，且成本低。
[0022]本文中应用了具体个例对本实用新型的测试装置及实施方式进行了阐述，以上实施方式的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制，本实用新型的保护范围应以所附的权利要求为准。
【权利要求】
1.一种测试装置，用于测试TFT基板上的电极，其特征在于，所述测试装置包括: 多个测试点，所述多个测试点均位于所述TFT基板上； 多个反馈点，所述多个反馈点均设置在所述TFT基板上； 基座，所述基座设置有多个反馈探针和多个测试探针，且所述多个反馈探针和所述多个测试探针通过基座联动的，同时所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应，所多个测试探针与所述多个测试点一一对应；以及 信号发生器，包括测试信号输出端、判断信号输出端及信号接收端，所述判断信号输出端、所述多个反馈探针、所述多个反馈点及所述信号接收端组成了反馈回路； 其中，所述判断信号输出端用于输出判断信号至一个反馈探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点一一对应电连接，所述反馈回路导通，所述测试信号输出端输出测试信号至所述多个测试探针，当所述多个反馈探针与所述多个反馈点未一一对应电连接，所述反馈回路断开，所述测试信号输出端停止输出所述测试信号至所述多个测试探针。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括触发开关，所述触发开关位于所述信号发生器的判断信号输出端与反馈探针之间。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多个反馈探针和所述多个反馈点一一对应，所述多个反馈点位于同一水平线上，所述多个反馈探针也位于同一水平线上。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多个测试探针和所述多个测试点一一对应，所述多个测试点位于同一水平线上，所述多个测试探针也位于同一水平线上。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多个反馈点之间利用导线相互串联连接。
6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括两组反馈点，所述两组反馈点分别位于多个测试点两端。
7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多个反馈点和多个测试点均可为圆形、方形、三角形、多边形任意其一的几何形状。
8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述多个反馈点的面积均小于所述多个测试点的面积。
9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多个反馈点和多个测试点均由导电材料构成。
10.一种测试系统，其特征在于，包括如权利要求1至9任意一项所述的测试装置。
【文档编号】G01R31/02GK204214983SQ201420711275
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2014年11月24日 优先权日:2014年11月24日
【发明者】吕建奇 申请人:昆山龙腾光电有限公司