一种调试电路、调试装置、调试系统和一种电子设备的制作方法

本实用新型涉及电路设计技术领域，具体涉及一种调试电路、调试装置、调试系统和一种电子设备。

背景技术：

目前，很多电子产品都趋向于小型化、防水等方向发展，会取消外露的USB接口、仅保留SD卡槽，虽然产品的电路板上会预留测试点，但是在产品组成整机后，这些测试点通常会包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。

技术实现要素：

本实用新型提供了一种调试电路、调试装置、调试系统和一种电子设备，以解决在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。

根据本实用新型的一个方面，本实用新型提供了一种调试电路，包括控制芯片、链路切换单元和SD卡座；

所述控制芯片，用于监测所述SD卡座中是否插入SD卡；

所述链路切换单元，用于当所述控制芯片监测到所述SD卡座中未插入SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开；当所述控制芯片监测到所述SD卡座中插入了SD卡时，将所述控制芯片上用于调试的引脚与所述SD卡座的相应引脚断开，并将所述控制芯片上用于与SD卡数据通信的引脚与所述SD卡座的相应引脚接通。

根据本实用新型的另一个方面，本实用新型提供了一种调试装置，包括 用于插入SD卡座的转接板，以及与所述转接板相连的USB连接器；

所述转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚，当所述转接板插入SD卡座时，所述DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接所述SD卡座的DATA0引脚、DATA1引脚和DATA2引脚；

所述转接板与SD卡座接触的一端经过切角处理，使所述转接板插入SD卡座后，SD卡座的CD引脚的信号为高电平；

所述USB连接器的VUBS引脚接所述转接板的DATA2_1引脚，所述USB连接器的D+引脚接所述转接板的DATA0_1引脚，所述USB连接器的D-引脚接所述转接板的DATA1_1引脚。

根据本实用新型的又一个方面，本实用新型提供了一种电子设备，包括上述的调试电路。

根据本实用新型的再一个方面，本实用新型提供了一种调试系统，包括上述调试电路，以及上述调试装置；

当所述单刀双掷开关的可动端连接第一不动端时，所述调试系统进入功能调试模式/固件升级模式；

当所述单刀双掷开关的可动端连接第二不动端时，所述调试系统进入固件升级模式/功能调试模式。

本实用新型的有益效果是：本实用新型实施例将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当控制芯片检测到SD卡座中插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座，此时控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当控制芯片检测到SD卡座中未插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座，此时可以通过SD卡座对产品整机进行调试，解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预留的测试点被包裹在整机内，因而不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。

附图说明

图1是本实用新型一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图；

图2是本实用新型一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图；

图3是本实用新型一个实施例提供的一种电子设备的功能框图；

图4是本实用新型一个实施例提供的一种调试系统的功能框图。

具体实施方式

本实用新型的设计构思是：很多电子产品向于小型化、防水等方向发展，外部仅预留SD卡槽，电路板上预留的测试点都被包裹在整机内，不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作。针对这种情况，本实用新型将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当SD卡座插入SD卡时，将控制芯片上用于与SD卡进行数据通信的引脚连接到SD卡座，控制芯片可以对SD卡进行正常的读写操作；当SD卡座未插入SD卡时，将控制芯片上用于调试的引脚连接到SD卡座，此时将调试装置插入SD卡座就可以对产品整机进行调试，并且还可以通过调试装置上的开关选择不同的模式。

实施例一

图1是本实用新型一个实施例提供的一种调试电路的电路原理图，如图1所示，本实施例提供的调试电路包括控制芯片U1、链路切换单元和SD卡座J2。

控制芯片U1监测SD卡座J2中是否插入SD卡。当控制芯片U1监测到SD卡座J2中未插入SD卡时，链路切换单元将控制芯片U1上用于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚接通，并将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开，此时控制芯片U1上用于调试的引脚通过SD卡座J2引到产品外部，上位机可以通过SD卡座J2与控制芯片U1建立连接，进行产品整机的相关调试工作。

当控制芯片U1监测到SD卡座J2中插入了SD卡时，链路切换单元将控制芯片U1上用于调试的引脚与SD卡座J2的相应引脚断开，并将控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的引脚与SD卡座J2的相应引脚接通，此时控制芯片U1可以正常读写SD卡。

当SD卡插入SD卡座中时，SD卡的一个角顶在CD引脚的位置，使SD 卡座的CD引脚拉低为低电平，因此在优选实施例中，控制芯片U1通过检测SD卡座J2的CD引脚的信号判断SD卡座J2中是否插入SD卡：当检测到SD卡座J2的CD引脚的信号为高电平时，控制芯片U1判断SD卡座J2中未插入SD卡，并向链路切换单元发送高电平的控制信号；当检测到SD卡座J2的CD引脚的信号为低电平时，控制芯片U1判断SD卡座J2中插入了SD卡，并通过SEL0脚向链路切换单元发送低电平的控制信号。

优选地，链路切换单元包括两个双通道单刀双掷开关：第一开关U2和第二开关U3。第一开关U2的第一输入通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D0引脚和D1引脚，第一开关U2的第二输入通道CH2接控制芯片U1上用于调试的USB_DP引脚和USB_DM引脚，第一开关U2的输出通道OUTPUT接SD卡座J2的DATA0引脚和DATA1引脚。第二开关U3的第一输入通道CH1接控制芯片U1上用于与SD卡数据通信的D3引脚和D4引脚，第二开关U3的第二输入通道CH2接控制芯片U1上用于调试的DETECT_VBUS引脚和Update引脚，第二开关U3的输出通道OUTPUT接SD卡座J2的DATA2引脚和DATA3引脚。

当SD卡座J2未插入SD卡时，第一开关U2和第二开关U3的SEL1脚接地，控制端SEL0通过电阻R3接VCC，被拉高，第一开关U2和第二开关U3的第一输入通道CH1关闭，第二输入通道CH2开启，控制芯片U1上用于进行调试工作的Update、USB_DP、USB_DM、DETECT_VBUS四个引脚被接通到SD卡座J2上。当SD卡座J2插入SD卡时，控制芯片U1检测到SD卡座的CD引脚的电平被拉低后，将第一开关U2和第二开关U3的控制端SEL0拉低，控制芯片U1上用于与SD卡进行数据通信的D0、D1、D2、D3四个引脚被接通到SD卡座J2上。

优选地，本实施例提供的调试电路还包括一个预留USB连接器J1，USB连接器J1的VBUS引脚接控制芯片U1的DETECT_VBUS引脚，USB连接器的D+引脚和D-引脚分别接控制芯片U1的USB_DP引脚和USB_DM引脚，USB连接器J1的GND引脚接地。在链路切换单元出现故障等情况下，可以将产品整机拆开，通过USB连接器J1进行产品的调试。

本实施例中，控制芯片U1为Ambarella(安霸)DSP芯片，安霸是目前 高端视频方案解决供应商，很多高端视频设备都是使用安霸解决方案，特别是现在市场前景比较好的运动相机、无人机等产品。这些产品大多数仅在设备外部保留唯一的输入输出接口，即SD卡座，将本实施例提供的调试电路应用到这类产品中，即可方便地通过SD卡座对产品整机进行调试工作。

实施例二

图2是本实用新型一个实施例提供的一种调试装置的电路原理图，如图2所示，本实施例提供的调试装置包括用于插入SD卡座的转接板，以及与转接板相连的USB连接器J3。

转接板上设置有DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚，当转接板插入SD卡座时，转接板的DATA0_1引脚、DATA1_1引脚和DATA2_1引脚分别连接SD卡座J2的DATA0引脚、DATA1引脚和DATA2引脚。本实施例中，转接板与普通的SD卡外形相同，但是在与SD卡座J2接触的一端(左下角)经过切角处理。当普通的SD卡插入SD卡座中时，SD卡的左下角顶在SD卡座CD引脚的位置，使SD卡座的CD引脚拉低为低电平。本实施的转接板左下角做了切角处理，使得转接板插入SD卡座后，SD卡座的CD引脚的信号为高电平，系统会判断SD卡座中未插入SD卡。

USB连接器J3的VUBS引脚接转接板的DATA2_1引脚，USB连接器J3的D+引脚接转接板的DATA0_1引脚，USB连接器的D-引脚接转接板的DATA1_1引脚。通过USB连接器J3可以对产品整机进行调试工作。

优选地，本实施例提供的调试装置上还设置有一个单刀双掷开关SW1，转接板上还设置有DATA3_1引脚和VDD_1引脚，当转接板插入SD卡座时，DATA3_1引脚和VDD_1引脚分别连接SD卡座的DATA3引脚和VDD引脚。单刀双掷开关SW1的可动端接转接板的DATA3_1引脚，第一不动端接转接板的VDD_1引脚，第二不动端接USB连接器J3的GND引脚。通过拨动单刀双掷开关SW1可以选择将控制芯片U1的Update引脚拉高或者拉低，以控制产品开机上电后系统进入不同的模式，例如选择进入固件升级模式或选择进入功能调试模式。

实施例三

图3是本实用新型一个实施例提供的一种电子设备的功能框图，本实施 例提供的电子设备300包括上述实施例一中的调试电路310。

实施例四

图4是本实用新型一个实施例提供的一种调试系统的功能框图，如图4所示，本实施例提供的调试系统400包括上述实施例1中的调试电路410以及上述实施例2中的调试装置420。单刀双掷开关SW1的可动端连接第一不动端或连接第二不动端时，会将控制芯片U1的Update引脚拉高或者拉低，使调试系统400进入不同的工作模式，如进入固件升级模式或功能调试模式。但是对于不同型号的芯片，系统进入固件升级模式或功能调试模式所需的电平是不一样的。

例如，对于安霸S2L33m-A1-RH芯片，当单刀双掷开关SW1的可动端接第一不动端时，转接板的DATA3_1引脚直接连接到VDD_1引脚，由于当转接板插入SD卡座J2时，转接板的DATA3_1引脚通过SD卡座J2和第二开关U3最终连接到控制芯片U1的Update引脚，因此Update引脚的电平被VDD拉高。控制芯片U1的Update引脚检测到高电平后，控制调试系统400进入固件升级模式，此时可以对电子产品整机软体进行升级。

当单刀双掷开关SW1的可动端接第二不动端时，转接板的DATA3_1引脚直接连接到地，使控制芯片U1的Update引脚的电平被拉低。控制芯片U1的Update引脚检测到低电平后，控制调试系统400进入功能调试模式，PC机等上位机可以通过USB连接器向电子产品整机内部的控制芯片U1发送指令，进行调试分析和测试。

但是对于安霸A9SE75芯片，当单刀双掷开关SW1的可动端接第一不动端，使控制芯片U1的Update引脚被VDD拉高时，调试系统400进入功能调试模式；当单刀双掷开关SW1的可动端接第二不动端，使控制芯片U1的Update引脚被GND拉低时，调试系统400进入固件升级模式。因此在实际使用时，需要根据系统要求选择单刀双掷开关的连接方向。

本实用新型将控制芯片的SD卡信号与USB信号进行复用，当SD卡座插入SD卡时，可以对SD卡进行正常的读写操作；当SD卡座插入调制装置时，可以对产品整机进行调试，并且还可以通过调试装置上的开关选择不同的模式，解决了在电子产品外部仅预留SD卡槽的情况下，由于电路板上预 留的测试点被包裹在整机内，因而不便于进行产品整机的研发调试、产线测试等工作的问题。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，在本实用新型的上述教导下，本领域技术人员可以在上述实施例的基础上进行其他的改进或变形。本领域技术人员应该明白，上述的具体描述只是更好的解释本实用新型的目的，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。