技术编号:6078531
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型公开了一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置,属于专用夹具中的光学元件调节夹持装置,其目的在于提供一种用于光束取样光栅取样参数测量的光学元件精密调节夹持装置,同时实现对光学元件的位置调节精度达到亚毫米量级精度以及元件装夹的安全稳固。其技术方案为包括夹具框架,夹具框架中部开设有通光孔,夹具框架的侧面上均布有若干固定旋钮,部分固定旋钮上设有螺旋千分尺,夹具框架顶面均布有若干用于压紧光学元件的固定旋杆。本实用新型适用于光束取样光栅的取样参数测量...
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