用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，属于专用夹具【技术领域】中的光学元件调节夹持装置，其目的在于提供一种用于光束取样光栅取样参数测量的光学元件精密调节夹持装置，同时实现对光学元件的位置调节精度达到亚毫米量级精度以及元件装夹的安全稳固。其技术方案为：包括夹具框架，夹具框架中部开设有通光孔，夹具框架的侧面上均布有若干固定旋钮，部分固定旋钮上设有螺旋千分尺，夹具框架顶面均布有若干用于压紧光学元件的固定旋杆。本实用新型适用于光束取样光栅的取样参数测量。
【专利说明】用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于专用夹具【技术领域】，涉及一种调节夹持装置，尤其涉及一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置。
【背景技术】
[0002]光束取样光栅是一种衍射光学元件，一般用于大型激光装置中进行光束取样。经过取样光栅的光形成主光束和取样光束，通过实时探测取样光束的能量来诊断主光束的能量。
[0003]在光束取样光栅取样参数测量中，元件在测量光路中的位置对取样参数测量影响较大，对元件位置的精密调节是取样参数精确测量的重要保障。且在光束取样光栅取样参数测量中，对光学元件的位置实现亚毫米量级精度的调节，同时保证元件装夹的安全稳固，而现有的光学元件夹持方法与夹持装置中，难以实现光学元件位置在亚毫米量-精度的精确调节以及光学元件装夹的安全稳固。
【发明内容】
[0004]为实现上述目的，本实用新型的目的在于提供一种用于光束取样光栅取样参数测量的精密调节夹持装置，同时实现对光学元件的位置调节精度达到亚毫米量级以及元件装夹的安全稳固。
[0005]为实现上述目的，本实用新型的技术方案为:
[0006]一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，包括夹具框架，其特征在于:所述夹具框架中部开设有通光孔，所述夹具框架的侧面上均布有若干固定旋钮，部分固定旋钮上设有螺旋千分尺，所述夹具框架顶面均布有若干用于压紧光学元件的固定旋杆。
[0007]本实用新型工作时，先过升降台将光学元件平稳地放入加持装置上，然后根据光学元件的长宽尺寸计算出螺旋千分尺的旋入位置并将螺旋千分尺旋入到指定位置，其次再拧紧四周的固定旋钮将光学元件调节至所需位置，最后夹具框架顶面上的固定旋杆将光学元件压紧固定。通过以上步骤可实现光学元件的精密定位，从而确保取样焦距与取样角度的测量精度。
[0008]本实用新型的目的还可以通过以下途径来实现:
[0009]所述夹具框架为矩形或方形。
[0010]所述夹具框架的每个侧面上的固定旋钮均至少设置两个。
[0011]设有螺旋千分尺的固定旋钮分布在相互垂直的两侧面上。
[0012]所述固定旋杆设置有四个，且四个固定旋杆分别位于夹具框架的四角。
[0013]所述固定旋杆上设有聚四氟乙烯垫片。
[0014]所述夹具框架的侧面上设有夹具把手。
[0015]与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于:
[0016]1、本实用新型中，在夹具框架的侧面上设有若干固定旋钮，且部分固定旋钮上设有螺旋千分尺，当光学元件放置到夹具框架上后，先通过固定旋钮粗略将光学元件大致调节到所需位置，再通过螺旋千分尺精确地将光学元件调节到所需位置后由固定旋杆进行压紧固定，通过螺旋千分尺进行精调，理论上可使定位精度达到0.01mm，实现对光学元件的位置-实现亚毫米量级精度的调节，且能保证光学元件安全夹持，夹持方便。
[0017]2、本实用新型中，夹具框架为矩形或方形，且在夹具框架的每个侧面上的固定旋钮均至少设置两个，夹具框架的每边通过至少两个固定旋钮进行定位，可提高光学元件的定位精度。
[0018]3、本实用新型中，螺旋千分尺设置在相互垂直的两侧面上的固定旋钮上，因而位于相互垂直的两侧面上的螺旋千分尺可从纵向、横向两个方向对光学元件的位置进行调节，使光学元件的位置调节更加方便快捷，且调节精度更高。
[0019]4、本实用新型中，固定旋杆设置有四个，且四个固定旋杆分别位于夹具框架的四角，每个角落的固定旋杆用于压紧固定光学元件的对应角落，使光学元件的压紧更加稳定。
[0020]5、本实用新型中，在固定旋杆上设置聚四氟乙烯垫片，压紧时该聚四氟乙烯垫片直接与光学元件弹性接触，从而可有效避免光学元件在压紧时造成的损坏。
[0021]6、本实用新型中，在夹具框架的侧面上设置夹具把手，通过夹具把手可对夹具框架进行搬运，且搬运较为方便。
【专利附图】
【附图说明】
[0022]图1为本实用新型的主视图，其中局部进行了剖视；
[0023]图2为本实用新型的左视图；
[0024]其中，附图标记为:1 一夹具把手、2—螺旋千分尺、3—螺旋千分尺、4一螺旋千分尺、5—螺旋千分尺、6—固定旋钮、7—固定旋钮、8—固定旋钮、9一固定旋钮、10—固定旋杆、11一固定旋杆、12—固定旋杆、13—固定旋杆、14一夹具框架、15—通光孔、16一光学兀件。
【具体实施方式】
[0025]下面结合附图，对本实用新型做进一步说明:
[0026]实施例一
[0027]—种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，包括夹具框架14，该夹具框架14可采用圆形结构、矩形结构或方形结构，但本实施例中夹具框架14可采用方形结构。该夹具框架14中部开设有通光孔15，该通光孔15可对应夹具框架14的结构采用圆形结构、矩形结构或方形结构，作为一种优选，本实施例中通光孔15采用与夹具框架14相同的方形结构，且当光学元件16放置在夹具框架14上后该光学元件16能够完全覆盖住通光孔15。夹具框架14的四个侧面上均布有若干固定旋钮(6、7、8、9)，且每个侧面上的固定旋钮(6、7、8、9)至少设置两个，作为一种优选，每个侧面上的固定旋钮(6、7、8、9)设置两个。夹具框架14上相互垂直的两侧面上的固定旋钮上设置有螺旋千分尺(2、3、4、5)，即相互垂直的两侧面上的两个固定旋钮上均设置有螺旋千分尺(2、3、4、5)。夹具框架14的顶面上设置有若干个固定旋杆(10、11、12、13)，本实施例中夹具框架14的顶面上设置有四个固定旋杆(10、11、12、13)，且该四个固定旋杆(10、11、12、13)对应设置于夹具框架14顶面的四个角落处。
[0028]本实用新型工作时，先过升降台将光学元件16平稳地放入加持装置上，然后根据光学元件的长宽尺寸计算出螺旋千分尺(2、3、4、5)的旋入位置并将螺旋千分尺(2、3、4、5)旋入到指定位置，其次再拧紧四周的固定旋钮(6、7、8、9)将光学元件16调节至所需位置，最后夹具框架14顶面上的固定旋杆(10、11、12、13)将光学元件16压紧固定。通过在夹具框架14的侧面上设有若干固定旋钮(6、7、8、9)，且部分固定旋钮(6、7、8、9)上设有螺旋千分尺(2、3、4、5)，当光学元件16放置到夹具框架14上后，先通过固定旋钮(6、7、8、9)粗略将光学元件16大致调节到所需位置，再通过螺旋千分尺(2、3、4、5)精确地将光学元件16调节到所需位置后由固定旋杆(10、11、12、13)进行压紧固定，通过螺旋千分尺(2、3、4、5)进行精调，理论上可使定位精度达到0.01mm，实现对光学元件16的位置调节精度实现亚毫米量级精度的调节。
[0029]实施例二
[0030]一种用于光束取样光栅取样参数测量的光学元件调节夹持装置，包括夹具框架14，该夹具框架14可采用圆形结构、矩形结构或方形结构，但本实施例中夹具框架14可采用圆形结构。该夹具框架14中部开设有通光孔15，该通光孔15可对应夹具框架14的结构采用圆形结构、矩形结构或方形结构，作为一种优选，通光孔15采用与夹具框架14相同的圆形结构，且当光学元件16放置在夹具框架14上后该光学元件16能够完全覆盖住通光孔15。夹具框架14的侧面上均布有若干固定旋钮(6、7、8、9)，作为一种优选，侧面上的固定旋钮(6、7、8、9)设置八个。夹具框架14的侧面上每间隔一个固定旋钮就在固定旋钮上设置螺旋千分尺(2、3、4、5)，即夹具框架14的侧面相上设置四个螺旋千分尺(2、3、4、5)，四个螺旋千分尺(2、3、4、5)依次间隔90°设置。夹具框架14的顶面上设置有若干个固定旋杆(10、11、12、13)，作为一种优选，夹具框架14的顶面上设置有四个固定旋杆(10、11、12、13)，四个固定旋杆(10、11、12、13)对应四个螺旋千分尺(2、3、4、5)的位置处设置。
[0031]实施例三
[0032]在实施例一或实施例二的基础上，该固定旋杆(10、11、12、13)上设有聚四氟乙烯垫片。当压紧时，该聚四氟乙烯垫片直接与光学元件弹性接触，从而可有效避免光学元件在压紧时造成的损坏。
[0033]实施例四
[0034]在实施例一、实施例二或实施例三的基础上，夹具框架14的侧面上设有夹具把手1。通过在夹具框架14的侧面上设置夹具把手1，通过夹具把手1可对夹具框架14进行搬运，且搬运较为方便。
【权利要求】
1.一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，包括夹具框架(14)，其特征在于:所述夹具框架(14)中部开设有通光孔(15)，所述夹具框架(14)的侧面上均布有若干固定旋钮(6、7、8、9)，部分固定旋钮(6、7、8、9)上设有螺旋千分尺(2、3、4、5)，所述夹具框架(14)顶面均布有若干用于压紧光学兀件(16)的固定旋杆(10、11、12、13)。
2.如权利要求1所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于:所述夹具框架(14)为矩形或方形。
3.如权利要求2所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于:所述夹具框架(14)的每个侧面上的固定旋钮(6、7、8、9)均至少设置两个。
4.如权利要求3所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于:设有螺旋千分尺(2、3、4、5)的固定旋钮(6、7、8、9)分布在相互垂直的两侧面上。
5.如权利要求2所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于:所述固定旋杆(10、11、12、13)设置有四个，且四个固定旋杆(10、11、12、13)分别位于夹具框架(14)的四角。
6.如权利要求5所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于:所述固定旋杆(10、11、12、13)上设有聚四氟乙烯垫片。
7.如权利要求1-6中任一所述的用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，其特征在于:所述夹具框架(14)的侧面上设有夹具把手(I)。
【文档编号】G01M11/00GK204202847SQ201420755137
【公开日】2015年3月11日 申请日期:2014年12月5日 优先权日:2014年12月5日
【发明者】刘勇, 李 东, 杨 一, 刘旭, 姜宏振, 郑芳兰, 陈波 申请人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心