技术编号:6083581
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及脉冲光发光分析装置。在对试样进行火花放电或照射激光脉冲,使试样发光,然后对该光进行分光的脉冲光发光分析法中,存在如下问题。在借助火花放电的发光光谱分析中,为了减少存在于试样表面的小缺陷、气孔或附着物等的影响,提高分析精度,通常,借助于预先放电对试样表面进行预处理后再进行分析。这种场合,例如在进行5秒种的分析时,必需预先用高能量放电进行10秒以上的预处理。之所以将放电分为前后二次进行,是因为虽然高能量放电使试样汽化的能力大,但相对于此时的试样元素的...
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