技术编号：6091487
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型是一种用于X射线荧光光谱仪无损检测金银首饰的装载试样的透空样品盒。属于金银首饰的分析检测领域。对于金银首饰的检测现多采用比重法或X射线荧光光谱法，但这些方法都存在着一定条件的局限性。如比重法对于选用与金比重相近的金属做成的合金首饰或包金、镀金首饰的检测就难以得到准确的检测结果。使用X射线荧光光谱法检测金银首饰则要求被测样品在形态、大小、厚度、表面光洁度等物理形态尽可能与标准样品一致，实际上难以做到。同时还受试样装载方式的影响，通常采用的铅底托装载...
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