专利名称：一种检测金银首饰的透空样品盒的制作方法
技术领域：
本实用新型是一种用于X射线荧光光谱仪无损检测金银首饰的装载试样的透空样品盒。属于金银首饰的分析检测领域。
对于金银首饰的检测现多采用比重法或X射线荧光光谱法，但这些方法都存在着一定条件的局限性。如比重法对于选用与金比重相近的金属做成的合金首饰或包金、镀金首饰的检测就难以得到准确的检测结果。使用X射线荧光光谱法检测金银首饰则要求被测样品在形态、大小、厚度、表面光洁度等物理形态尽可能与标准样品一致，实际上难以做到。同时还受试样装载方式的影响，通常采用的铅底托装载试样，由于铅底托裸露面积的不同及与X射线管距离不一致产生测量强度的变化，加之铅底托本身及杂志元素的散射，使测量结果不能完全反映实际被测金银首饰的真实散射强度，引起较大的测量误差。
鉴于上述存在的问题，本实用新型的目的就是要提供一种不受金银首饰的形状、大小、厚度、表面光洁度及装样方式的影响，可以准确检测金银首饰的纯度，用于X射线荧光光谱仪检测金银首饰的式样装载托架，透空样品盒。
为了达到上述目的，本实用新型的技术解决方案是根据X射线荧光光谱法检测金银首饰时，散射强度与形态，大小、厚度、表面光洁度的关系，设计了专门用于金银首饰检测的透空样品盒，并通过各种不同纯度、不同物理形态的金银标准样品进行X射线荧光光谱法透空测量及数学参数法加以校正，以此做为基准用于金银首饰的检测。透空样品盒由不锈钢盒体，弹簧垫圈、聚四氟乙烯透射环、铁质面罩及盒盖组成。其中垫圈、透射环、面罩及盒盖中间都开有透空园孔。检测时，将弹簧垫圈放于盒体中，透射环放于弹簧垫圈上，金银首饰放于透射环上，并暴露部分于园孔中，加上面罩(如饰物镶嵌有宝石，用面罩将宝石部分盖住不露于园孔中)，旋紧盒盖，使金银首饰固定住，然后放于X射线荧光光谱仪中样品测量照射位置进行测定。测定结果通过事先输入仪器计算机的数学参数校正值进行校正后，输出测定结果。
对于包金，镀金或表面纯金修饰后的K金等非均匀性金银首饰，可采用本实用新型与比重法联合测量技术，并在本实用新型修正比重法计算公式的基础上，通过测量校正，克服了单一方法计算的盲目性，提高了检测数据的可靠性。
由于本实用新型采用了透空样品盒代替了铅底托装载试样，使用透照射测量和数学参数校正方法，较好地克服了被测试样的不同形态、大小、厚度、表面光洁度和装样方法的影响，使被检测的金银首饰金等元素的浓度与相对测量强度之间具有良好的线性关系，提高了测量的准确度，并具有无损伤、快速的优点。采用本实用新型不仅可以检测各种均匀性的K金首饰(如市售的24K，22K，20K，18K，14K等金饰品)，而且与比重法结合进行检测也可测定包金、镀金或表面纯金修饰后的K金首饰。用本实用新型对24K，18K，14K金首饰检测结果，其检测精密度分别达到0.06％，0.26％，0.52％。
附
图1是透空样品盒剖面示意图
以下结合附图1对本实用新型作进一步的说明。
图中1－透空样品盒盒体；2－弹簧垫圈；3－聚四氟乙烯透射环；4－铁质面罩；5－盒盖。
透空样品盒盒体1底部开有两园形透气孔，进行金银首饰检测时，将弹簧垫圈2放于盒体1中，再将中间开有园孔的聚四氟乙烯透射环3放于垫圈2上，卡在弹簧圈中，把需检测的金银首饰放于透射环3上，将X射线照射的部分露于园孔中，盖上中间开有园孔的面罩4，旋上盒盖5(如金银首饰镶有宝石，宝石部分用面罩遮盖住)，将样品盒放于X射线荧光光谱仪自动换样机上，启动DF－350B数据处理系统和自编程序，进行自动分析、校正。八分钟后，由打字机一次输出6个试样检测结果。
采用本实用新型对不同K金测定结果见表1。
表1不同K金测定结果对照(％)－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－样品纯Au 24K 20K 18K14K 成色值99.999 99.99 83.33 75.0058.33 本实用新型99.999 99.97 83.31 74.7557.92 测定值－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－
采用本实用新型与比重法联合检测非均匀性金首饰，并与单一的X射线荧光光谱法(XRF)及比重法进行比较，测定结果见表2。
表2联测法与单一法测定结果对照(％)－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－样品XPF比重法联测法参考值1 99.95 99.4299.91 99.9 2 65.78 36.6339.99 40.0 3 48.90 21.7718.92 18.914 80.383.2380.31 80.0－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－从以上测定数据可以看出采用本实用新型及比重法联合检测所得到的各种金银首饰的检测结果都具有好的准确度。
权利要求1.一种用于X射线荧光光谱仪无损检测金银首饰的透空样品盒，包括盒体、弹簧垫圈、透射环、面罩及盒盖，其特征在于弹簧垫圈放于盒体中，透射环放于垫圈上，面罩放于透射环上，盒盖与盒体通过螺口相连接。
2.根据权利要求1所述的透空样品盒，其特征在于，弹簧垫圈、透射环、面罩及盒盖中间都开有透空园孔。
专利摘要本实用新型是一种用于X射线荧光光谱仪无损检测金银首饰的装载试样的透空样品盒。由盒体、弹簧垫圈、透射环、面罩及盒盖组成。其中垫圈、透射环、面罩及盒盖中间都开有透空圆孔。需检测的金银首饰放于面罩下，露于圆孔中，用盒盖旋紧固定，放于X射线荧光光谱仪自动换样机上，进行自动分析测定。
文档编号G01N23/22GK2208704SQ93206379
公开日1995年9月27日 申请日期1993年3月19日 优先权日1993年3月19日
发明者陈永君, 邓赛文, 梁国立 申请人:地质矿产部岩矿测试技术研究所