技术编号：6095637
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种利用X射线(或γ射线)进行无损检查的系统。具有有限带宽的单一能量带的X射线(或γ射线)已经用于常规的无损投影成像系统中，由于这种成像系统使用检查范围内的所有材料对X射线(或γ射线)的积累衰减信息，所以当两种不同的材料提供相同的衰减量时，这种成像系统不能将它们区分开来。例如，采用单一能量的X射线(或γ射线)投影成像法，不能辨别一块薄的金属板和一块厚的塑料板。1991年美国专利第4987584号中记载了一种对单一能量的X射线投影成像法的改进方法，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。