专利名称：：X射线(或γ射线)无损检查系统的制作方法
技术领域：
：本发明涉及一种利用X射线(或γ射线)进行无损检查的系统。具有有限带宽的单一能量带的X射线(或γ射线)已经用于常规的无损投影成像系统中，由于这种成像系统使用检查范围内的所有材料对X射线(或γ射线)的积累衰减信息，所以当两种不同的材料提供相同的衰减量时，这种成像系统不能将它们区分开来。例如，采用单一能量的X射线(或γ射线)投影成像法，不能辨别一块薄的金属板和一块厚的塑料板。1991年美国专利第4987584号中记载了一种对单一能量的X射线投影成像法的改进方法，它是使用两种不同的能量带(高能量带和低能量带)的X射线(或γ射线)和材料对这两种不同能量的X射线的衰减系数的比值μH/μL。当这一比值接近于1时，这一物体被定义为塑料，当这一比值小于1时，这一物体被辨别为金属。这种方法只有在两种材料不重叠的情况下才能从金属中辨别出塑料。另外，当高能量带超过和接近金属的吸收边缘(K-edgl)时，即使检查范围中包含金属，由于材料的衰减系统的比值接近于1，也被表示为塑料。因此，当使用的高能量带接近于金属的吸收边缘时，用这种方法辨别塑料和金属是非常困难的。1987年美国专利4686695号记载了一种医学领域的血管照相方法，它用两种经过适当滤光的不同能量的X射线从碘、骨和组织(tissue)中辨别出碘。这种影像相减技术体现了材料对不同能量的X射线有不同的线性吸收系数，两种不同能量的X射线作用于衰减系数非常接近的骨和组织，通常能产生两种不同的X射线影像。影像的加权相减是用来消除骨和组织的影像，并分离出碘的影像。当加权相减后仍然残留有骨的背景影像时，再增加第三种能量低于碘的吸收边缘的X射线来消除残留的骨的背景，从而分离出充满碘的血管的影像。这种技术是在成像前存在于人体中的材料例如骨、组织、碘和损伤已知的情况下采用的，根据这种特定的技术，两种能量的X射线的选择应使骨和组织对这两种X射线的质量衰减系数相互接近。采用这一技术的另一个限制条件是，当为了消除残余骨的影像而需要第三种能量的X射线时，选取的第三种能量必须低于碘和损伤的吸收边缘。另外，这种技术不能实时(inreal-time)地运行和产生结果。上述的几种已有技术都不能对包含有大量不同材料的未探明的整体进行实时地影像分离。本发明的目的是设计一种X射线(或γ射线)的检查系统，它能够用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，并对这些具体材料的影像进行实时地分离。为了使本
技术领域：
的普通技术人员充分利用本发明，并且能够提出实现本发明的更好的实施例，下面对本发明的一般原理给予明确地解释。X射线(或γ射线)在材料中的指数衰减特性可以由“质量衰减系数”(单位cm2/g)表示，“质量衰减系数”表示材料单位质量对X射线的吸收横断面。这种吸收的主要物理现象是光电效应和康普顿效应。因此，当光子能量的变动范围是5Kev到8Mev时，质量衰减系数是光子能量和材料的密度的函数。用材料的密度(g/cm3)乘以质量衰减系数得到“线性衰减系数”μ(单位cm-1)，使用线性衰减系数，可以将穿过均匀材料的X射线(或γ射线)的衰减表示为I(E，X，Y)＝I0(E)·e-μ(E)·T(X，Y)(1)这里I0(E)为具有光子能量为E的X射线(或γ射线)的光子的入射强度；I(E，X，Y)为X射线(或γ射线)穿过材料后测得的强度；T(X，Y)为材料在沿着X射线(或γ射线)源和探测器点(X，Y)之间的直线上的厚度；μ(E)是材料对光子能量为E的X射线(或γ射线)的线性衰减系数。当一个物体中包含对X射线(或γ射线)的N种不同衰减材料时，在影像点(X，Y)处测得的X射线(或γ射线)的强度通常表示为这里的I0(E)为对准影像点(X，Y)的X射线(或γ射线)的光子的入射强度；I(E，X，Y)为X射线(或γ射线)穿过物体后测得的强度；μj(E)为材料j对光子能量为E的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；Tj(X，Y)为材料j在沿着X射线(或γ射线)源和影像点(X，Y)之间的光程上的厚度。图1给出X射线(或γ射线)源10、物体12以及屏幕或探测器点(X，Y)14之间的几何关系，测得的强度I(E，X，Y)为在沿着X射线(或γ射线)的光程上具有它们各自厚度的所有材料的积累衰减结果。因为I(E，X，Y)是在探测器14处测得的强度，所以材料的厚度以及材料的信息不能由单一能量为E的X射线(或γ射线)的单一影像来分解。如果分别使用N种不同光子能量为Ek的X射线(或γ射线)对被检查的物体成像，k＝1，2……N，那么，方程(2)可被修改为I(Ek,X,Y)=Io(Ek)·e-(Σj=1Nμj(Ek)·Tj(X,Y))----(3)]]>或者，I(Ek,X,Y)/Io(Ek)=e-(Σj=1Nμj(Ek)·Tj(X,Y))----(4)]]>这里k＝1，2……N；I(Ek，X，Y)为入射光子能量为Ek的X射线(或γ射线)穿过物体后测得的强度；I0(Ek)为光子能量为Ek的X射线(或γ射线)的入射强度；μj(Ek)为材料j对光子能量为Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；Tj(X，Y)为材料j沿着X射线光程上的厚度分布。对方程(4)两边取自然对数后，设Lk(X，Y)为-Ln(I(Ek,X,Y)/Io(Ek))≡Lk(X,Y)=(Σj=1Nμj(Ek)·Tj(X,Y))----(5)]]>这个方程可以写成矩阵的形式L(x，y)＝μ·T(X，Y)(6)这里的线性衰减系数矩阵μ的元素μjk为材料j对光子能量为Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数，即μj(Ek)。材料j的厚度分布Tj(X，Y)可以用矩阵μ的逆矩阵点乘矩阵L(x，y)解出T(x，y)＝μ-1·L(x，y)(7)或者明确地表示为这里μkj-1是矩阵μ-1的元素，Tj(x，y)是材料j在沿着X射线(或γ射线)源和探测器点(x，y)之间的光程上的厚度分布，因此也是材料j的投影影像。与线性衰减系数μ等价的特征量是质量衰减系数ρ，μ与ρ的关系为μj(Ek)＝ρj(Ek)·dj(9)这里μj(Ek)为材料j对光子能量为Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；ρj(Ek)为材料j对光子能量为Ek的X射线(或γ射线)的质量衰减系数；dj为材料j的密度。将(9)式代入(6)式得到L(x，y)＝ρd·T(x，y)(10)即L(x，y)＝ρ·dT(x，y)(11)材料j的厚度分布Tj(x，y)与密度的乘积可以用矩阵ρ的逆矩阵点乘矩阵L(x，y)解出dT(x，y)＝ρ-1·L(x，y)(12)或者明确地表示为这里ρkj-1是矩阵ρ-1的元素。dj·Tj(x，y)是在厚度分布Tj(x，y)上乘上一个常数dj，它也是材料j的投影影像，经过影像处理后它与(8)式中解出的影像Tj(x，y)在视觉上的效果相同。设L′k(x，y)＝Ln〔I(Ek，x，y)〕，L″k(x，y)＝Ln〔I0(Ek)〕则(5)式可表示为Lk(x，y)≡L″k(x，y)－L′k(x，y)(14)如果X射线(或γ射线)是平行的，且是均匀的，当X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)选定后，Ln〔I0(Ek)〕为常数，设L″k(x，y)＝Ln〔I0(Ek)〕＝Ck(15)将(15)式代入(14)式，(14)式可表示为Lk(x，y)≡Ck－L′k(x，y)(16)将(16)式代入(7)式得T(x，y)＝μ-1·Ck-μ-1·L′k(x，y)(17)因为μ-1kj、Ck都为常数，设aj＝μ-1·Ck(18)将(18)式代入(17)式，整理后得T(x，y)－aj＝-μ-1·L′k(x，y)(19)或者明确表示为所以在X射线(或γ射线)平行入射(或近似平行)，且均匀的情况下，将测得的透射强度I(Ek，x，y)〕取对数后得到的L′k(x，y)＝Ln〔I(Ek，x，y)〕进行线性衰减系数的矩阵运算，并加反号，可以得到等价的材料影像Tj(x，y)－aj，它是在材料j的厚度分布上加上(或减去)一个常数，对Tj(x，y)－aj进行影像处理后，与测量出I0(Ek)后利用(8)式解出的影像Tj(x，y)在视觉上的效果是没有多大差别的。同样的道理，将(16)式代入(12)式，整理后可以得到Tj(x，y)-aj＝-ρ-1·L′k(x，y)(21)这里aj＝ρ-1·Ck。(21)式可更明确地表示为所以，将测得的透射强度I(Ek，x，y)取对数后得到的L′k＝Ln〔I(Ek，x，y)〕进行质量衰减系数的矩阵运算，并加反号，可以得到等价的材料影像dj·Tj(x，y)－aj，它是在材料j的厚度分布上乘上一个常数dj后再加上(或减去)一个常数aj，该等价影像经过影像处理后与测量出I0(Ek)后利用(8)式解出的Tj(x，y)在视觉上的效果是没有多大差别的。在N＝2时，即可以采用(8)式、(13)式、(20)式或(22)式的矩阵运算方法，也可以采用与矩阵运算方法等价的方法，例如I(E1,X,Y)=Io(E1)·e-μ1(E1)·T1(X,Y)-μ2(E1)·T2(X,Y)----(23)]]>I(E2,X,Y)=Io(E2)·e-μ1(E2)·T1(X,Y)-μ2(E2)·T2(X,Y)----(24)]]>对(23)式和(24)式两边取自对数得Ln〔I(E1，x，y)〕＝Ln〔I0(E1)〕－μ1(E1)·T1(X，Y)－μ2(E1)·T2(X，Y)(25)Ln〔I(E2，x，y)〕＝Ln〔I0(E2)〕－μ1(E2)·T1(X，Y)－μ2(E2)·T2(X，Y)(26)(25)×μ1(E2)－(26)×μ1(E1)得μ1(E2)·Ln〔I(E1，x，y)〕－μ1(E1)·Ln〔I(E2，x，y)〕＝μ1(E2)·Ln〔I0(E1)〕－μ1(E1)·Ln〔I0(E2)〕＋〔μ1(E1)·μ2(E2)－μ1(E2)·μ2(E1)〕·T2(X，Y)(27)两样道理，(26)×μ2(E1)－(25)×μ2(E2)得μ2(E1)·Ln〔I(E2，x，y)〕－μ2(E2)·Ln〔I(E1，x，y)〕＝μ2(E1)·Ln〔I0(E2)〕－μ2(E2)·Ln〔I0(E1)〕＋〔μ1(E1)·μ2(E2)－μ1(E2)·μ2(E1)〕·T1(X，Y)(28)(27)÷μ1(E2)，(28)÷μ2(E1)得Ln(I(E1,x,y))-μ1(E1)μ1(E2)·Ln(I(E2,x,y))=Lo(Io(E1))-μ1(E1)μ1(E2)·Ln(Io(E2))]]>+μ1(E1)·μ2(E2)-μ1(E2)·μ2(E1)μ1(E2)·T2(X,Y)----(29)]]>Ln(I(E2,x,y))-μ2(E2)μ2(E1)·Ln(I(E1,x,y))=Ln(Io(E2))-μ2(E2)μ2(E1)·Ln(Io(E1))]]>+μ1(E1)·μ2(E2)-μ1(E2)·μ2(E1)μ2(E1))·T1(X,Y)----(30)]]>设a=μ1(E1)μ1(E2),A=Ln(Io(E1))μ1(E1)μ1(E2)·Ln(Io(E2))]]>B=μ1(E1)·μ2(E2)-μ1(E2)·μ2(E1)μ1(E2),]]>β=μ2(E2)μ2(E1),]]>D=Ln(Io(E2))-μ2(E2)μ2(E1)·Ln(Io(E1)),]]>E=μ1(E-1)·μ2(E-2)-μ1(E-2)·μ2(E-1)μ2(E1)]]>如果X射线(或γ射线)是平行的，且是均匀的，X射线(或γ射线)的强度I0(E1)和I0(E2)选定后，α、β、A、B、D、E都为常数，(29)式和(30)式可表示为B·T2(x，y)＋A＝Ln〔I(E1，x，y)〕－α·Ln〔I(E2，x，y)〕(31)E·T1(x，y)＋D＝Ln〔I(E2，x，y)〕－β·Ln〔I(E1，x，y)〕(32)材料1的等价影像E·T1(x，y)＋D和材料2的等价影像B·T2(x，y)＋A经过影像处理后与利用(8)式解出的影像T1(x，y)和T2(x，y)在视觉效果上并无多大差别。因此，在N＝2时，(31)式、(32)式的计算方法是与(8)式、(13)式、(20)式或(22)式的矩阵运算方法等同的计算方法。上面介绍的影像分离技术不依靠光子产生和光子感测的具体形式，光源的影响来自所产生的光子能量分布的品质和可用的、离散的(即不重叠的)光子能量分布的总数，这个效果显示在对材料的分辨能力上。所有实际的光源所产生的能量分布可以近似为一个有最大强度的能量值和一个有限带宽的分布，带宽越大，各光子能量分布之间越可能重叠，可用的离散的光子能量的总数就越少，因此分解的材料也越少。使用较少数量的离散光子能量或者较大的带宽，将降低影像系统对衰减系数相互接近的材料之间的辨别能力，例如用常规的X射线源很难从铁中辨别出镍，但却很容易从铜中辨别出碳。使用单色化的同步加速器辐射源或者核衰变源，具有更好的光能解析度和更多的可用的离散的光子能量，因而能提供更好的材料分辨能力。根据可用的离散的能量的数量和能量分布的带宽，并根据材料对可用的离散的光子能量分布的衰减系数的接近程度，可以把材料分成几个主要组。下面表1给出碳、氮、氧、塑料、铁、镍、铜、铂、金和铅在光子能量从40KeV到150KeV之间的线性衰减系数，光子能量的整个范围内，碳、氮、氧和塑料有近似的线性衰减系数；铁合金、镍、和铜形成一个组；重金属象铂、金和铅形成另一组。组间的线性衰减系数至少相差一个因子10，而同一组中的材料之间的线性衰减系数的差别相对较小。即使光源不是理想的单色的，组间的重大差别和同一组中的元素之间的相对较小的差别也是明显的。一个组的代表线性衰减系数值可以通过在光子能量分布以及被合理地假定的材料成分中求平均值而近似地求取。在求平均值的过程中，一个组中的线性衰减系数的相对小的差别，允许给予合理的材料权重一个大的变动范围。为了进行实时的(realtime)影像分离，可按照材料对选定的不同能量分布的X射线(或γ射线)的线性衰减系数的接近程度，事先将在检查中可能存在的材料分组，这里X射线(或γ射线)能量的选取取决于光源的性能，并且使选取的X射线(或γ射线)分布相互重叠的可能性最小。分组之后，对于每一种被选定的X射线(或γ射线)能量分布Ek，材料组j的代表线性衰减系数μjk可被合理地计算出来。被区别分类的材料组的总数等于被使用的光子能量的总数。矩阵μ-1可由首先建立的线性衰减系数矩阵μ求逆得到，矩阵μ的元素为每个材料组对每一种X射线(或γ射线)能量分布的代表线性衰减系数μjk。μ-1矩阵是一个N×N矩阵，这里N为材料组的总数，也是使用的X射线(或γ射线)能量的总数。存在于检查过程中的可能的不同套材料组(differentpossiblesetsofmeaterialgroups)的不同μ-1矩阵，可事先建立并存贮在检查系统中。如果在检查过程中，某一假定的μ-1矩阵不能给出具体材料影像的最佳分离，可一个接一个地切换其它的μ-1矩阵，直到达到最佳的影像分离效果，或者达到对存在于被检查整体中的材料组的最佳测定。矩阵切换在被分辨材料总数多于可用的离散的光光子能量分布数时，也有用处，在后面将说明。实际上，μ-1矩阵间的这种动态切换工作可以由控制计算机或者辅助算术单元(assistedarithmeticunit)实时地进行，这里的计算机存贮着所有的在检查前建立的μ-1矩阵。各种材料对不同光子能量的衰减系数表可在参考书中找到，例如“NationalBureauofStandardsCompilationofX-rayCrossections”byMcMasteretal，UniversityofCaliforniaLivermoreReportNumberUCRL-50174，Sectionll，Rev.1(1969)。本发明的影像分离技术的方法总结如下1.根据光源的特性和能力，决定用来成像的可用的离散的X射线(或γ射线)能量或能量分布，经过适当滤光后的光子能量分布也包括在考虑的范围内，常规X射线源的光子能量的合理范围是从60kvp到200kvp。2.根据步骤1和在检查中可能存在的材料，按照这些材料对选定的光子能量分布的线性衰减系数的接近程度，把这些材料分成几个组。找出每一个组对不同光子能量分布的代表线性衰减系数。3.对存在于被检查的整体中的材料组的所有可能的组合建立μ矩阵，并建立μ矩阵的逆矩阵μ-1，这里矩阵μ的元素μjk由材料组j对光子能量分布Ek的代表线性衰减系数给出，矩阵的维数由可用的或选定的光子能量分布的总数决定。4.用步骤1中选定的光子能量获取影像，并使这些影像数字化，摄像机光圈(cameraaperture)与X射线管强度〔x-raytubecharge(mAs)〕的结合，使在最大X射线透射强度时，X射线探测器或者摄像机的输出不致饱和。在这一步骤中，每一种光子能量的入射强度I0(Ek)也被测出。5.把由步骤4得到的数字影像一个像素接一个像素地进行算术运算。在这一步骤中，至少包括如方程(5)所描述的对影像取自然对数和如方程(8)所描述的数学运算。在这一步骤中可以获得每个材料组的影像Tj(X，Y)。6.对影像Tj(X，Y)进行最佳化处理，最佳化处理的目的是对影像Tj(X，Y)进行调整，以致使检查员在监视屏上能看到最佳的视频显示。最好使用计算机控制数字成像系统，主控计算机控制系统的时序和数据传输，为了快速影像处理，主控计算机也用于计算和存贮检查前的信息，例如矩阵μ-1的元素，为了进行数学运算，硬件查表和独立的影像处理器在电路中被使用。根据具体的硬件设置，以上描述的步骤是可以改变的，例如步骤4到步骤6也可以由模拟算术电路进行，但并不影响具体材料影像的分离。本发明的目的可以通过下述技术解决方案实现方案一一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，它的特殊之处在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)透射强度探测装置，它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(4)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(5)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(6)影像处理装置，它用于处理并输出具体材料影像。方案一中X射线(或γ射线)产生装置分别产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，这里的X射线(或γ射线)产生装置即可以是能够产生单色性较好的X射线(或γ射线)的X射线(或γ射线)源，也可以是能够产生单色性不太理想的X射线(或γ射线)的X射线(或γ射线)源再加上整形装置。总之，从X射线(或γ射线)产生装置发出的X射线(或γ射线)具有较好的单色性，不需要进行整形就可直接用于影像分离即可，不管在其内部是否进行整形。方案二一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，它的特殊之处在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布，而这一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布可被细分为带宽较窄的N种不同能量分布，每种带宽较窄的能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)透射强度探测装置，它用于探测X射线(或γ射线)产生装置产生的带宽较宽的X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体以后，N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(4)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(5)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(6)影像处理装置，它用于处理并输出具体材料影像。方案二中只采用一种带宽较宽的X射线(或γ射线)分布，这一X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体后，其中被细分成的带宽较窄的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)中的每一种的透射强度可由透射强度探测装置测出。方案三一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，它的特殊之处在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它用于探测经过整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(6)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(7)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(8)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。方案四一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，它的特殊之处在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数，矩阵存贮装置中至少存贮着两个μ-1矩阵，每个μ-1矩阵对应不同的一套N种材料组；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它用于探测经过整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(6)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(7)切换装置，它用于在检测过程中从一个对应一套N种材料组的μ-1矩阵动态地切换到另一个对应另一套N种材料组的μ-1矩阵，切换的目的是找到恰当的一套N种材料组，它能最好地代表存在于被检查整体中的实际材料组，或者当由未探明的材料组成的整体中的实际存在的材料组的总数大于N时，切换一次μ-1矩阵可以分离出几种材料组的影像，再切换一次μ-1矩阵又可以分离出另外几种材料组的影像，最终可使实际存在的所有材料组的影像全部得到分离；(8)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(9)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。这里的切换装置可以是硬件和软件的混合设计，它可以是控制计算机及其控制软件。数个不同的μ-1矩阵被存贮在矩阵存贮装置的存贮元件(memory)中，然后由切换装置选取想使用的μ-1矩阵输入影像产生装置的存贮元件中，以便进行矩阵运算。具体的运行过程可以是控制计算机通过其控制元件逐个μ-1矩阵进行切换，也可以是检查员通过键盘选取要使用的μ-1矩阵。方案五一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，它的特殊之处在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它用于探测经过整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(6)信号分送装置，它用于在至少两个影像接收器之间分送或传输对应于不同能量分布的X射线(或γ射线)的第二影像信息；(7)控制装置，它用于控制X射线(或γ射线)产生装置、整形装置、第二探测装置和影像接收器的时序以及每一个影像接收器对第二影像信息的获取和处理时序；(8)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(9)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(10)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。这里的第二探测装置至少包括两个影像接收器(imagereceiver)，信号分送装置将不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)信息分送到不同的影像接收器中，这样可以对各种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)的影像在不同的影像接收器中独立地获取，以达到节省时间的目的。方案六一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，它和特殊之处在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数，X射线(或γ射线)产生装置包括至少两个同时产生两种不同能量的X射线(或γ射线)的X射线(或γ射线)源；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它包括至少两个同时运行的探测器，它用于探测经过整形装置整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)扫描装置，它通过移动X射线(或γ射线)源或者移动由未探明的材料组成的整体，进行同时存在的各种能量分布的X射线(或γ射线)扫描；(6)校正装置，它用于校正考虑到由未探明的材料组成的整体或X射线(或γ射线)源的运动速度时，由X射线(或γ射线)源和探测器的空间排列产生的影像时间延迟；(7)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(8)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(9)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(10)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。这里的X射线(或γ射线)产生装置至少包括两个X射线(或γ射线)源，各个X射线(或γ射线)源产生不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)。这样可以避免采用单一X射线(或γ射线)源产生N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)时，X射线(或γ射线)源本身的性能对N的大小的限制。在上述六种技术解决方案中，“不同能量分布Ek”中的“能量”都是指的X射线(或γ射线)的光子能量，该能量的大小是由X射线(或γ射线)的频率(或波长)决定的。能量分布主要指如图9中的曲线1所示的光谱，在能量为Ek处的强度最大，即I0(Ek)，Ek两侧的强度逐渐减少；“未探明的材料”是指不知道被检查的整体中存在哪些具体材料和这些材料的具体分布情况，或者知道存在哪些具体材料，但不知道这些材料的具体分布情况和具体的机械物理特性(例如裂纹、缺陷等)；“与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)”是指材料对X射线(或γ射线)的质量衰减系数ρ，具体运用时，可以建立线性衰减系数矩阵，也可以建立质量衰减系数矩阵。采用质量衰减系数矩阵来完成(13)式或(22)式的矩阵运算是采用线性衰减系数矩阵来完成(8)式或(20)式的矩阵运算的等同手段；“透射强度探测装置”接收穿过被检查的整体后的透射X射线(或γ射线)，输出“第二影像信息”。“第二影像信息”反映各种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的透射强度I(Ek，x，y)的大小，它能够由“对数处理装置”直接进行对数处理。“透射强度探测装置”可以是任何接收X射线(或γ射线)并输出强度信息的装置，只要该强度信息能够反映接收的X射线(或γ射线)的强度的大小并且能够直接被“对数处理装置”进行对数处理即可。“透射强度探测装置”可以是“第二探测装置”与“第二转换装置”的组合；“第二探测装置”接收穿过被检查的整体后的透射X射线(或γ射线)，输出“第二信号”。“第二信号”反映各种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的透射强度I(Ek，x，y)的大小，但不能由“对数处理装置”直接进行对数处理。“第二信号”经过“第二转换装置”转换为“第二影像信息”后才能够由“对数处理装置”进行对数处理；“整形装置”进行的“整形”是将X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)的带宽缩短，使经“整形”的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)相互之间不发生重叠或重叠较轻，即提高其单色程度。“整形”的具体措施包括单色化、滤光等，如图9所示，曲线2是滤光前的X射线(或γ射线)能量分布，曲线1是滤光后的X射线(或γ射线)能量分布，曲线1的带宽比曲线2的带宽窄；“对数处理装置”用于对第二影像信息取自然对数，即完成In〔(Ek，x，y)〕的运算；“影像产生装置”用于完成(20)式或(22)式中的矩阵运算，产生等价的影像Tj(x，y)－aj或di·Tj(x，y)－aj；“影像处理装置”用来对等价的影像Tj(x，y)－aj或dj·Tj(x，y)－aj进行最佳化显示处理并输出这些等价影像。在N＝2的特殊情况下，矩阵存贮装置可以不存贮由μ1(E1)、μ1(E2)、μ2(E1)、μ2(E2)组成的线性衰减系数矩阵μ的逆矩阵μ-1，而存贮α=μ1(E1)μ1(E2),β=μ2(E2)μ2(E1)]]>。影像产生装置利用经过对数处理的第二影像信息Ln〔I(E1，x，y)〕、Ln〔I(E2，x，y)〕以及α、β，完成(31)式和(32)式的运算，产生等价影像E1·T1(x，y)＋D和B·T2(x，y)＋A。这一系统与利用μ-1矩阵完成(20)式或(22)式矩阵运算的系统等同。上述六种技术方案中，由于没测入射强度I0(Ek)的大小，得到的等价影像Tj(x，y)-aj，dj·Tj(x，y)-aj，以及B·T2(x，y)＋A和E·T1(x，y)+D中的常数aj、A和D的大小及正负难以确定，这样等价影像可能大于0，也可能小于0。对一个数字化的成像计算只要在任何一点(pixel)的影像是负值，电子计算机或微处理器便会自动取成零。这时，负值区的最后成像只是零。这当然可以加上足够大的常数来补救，但对一个实际的快速处理过程，这种补救措施可能花费较多的运算时间，对影像处理装置处理影像带来一定困难。为了解决这一问题，可以在方案一的基础上进一步包括(1)入射强度探测装置，它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，入射强度探测装置输出第一影像信息；(2)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(3)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。也可以在方案二的基础上进一步包括(1)入射强度探测装置，它用于探测X射线(或γ射线)产生装置产生的带宽较宽的X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体以前带宽较窄的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)，入射强度探测装置输出第一影像信息；(2)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(3)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。还可以在方案三、方案四、方案五或方案六的基础上进一步包括(1)第一探测装置，它用于探测经过整形装置整形的N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)中的每一种的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在经过整形装置整形的N种能量分布的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，第一探测装置输出第一信号，第一信号与第一探测装置的探测量相一致；(2)第一转换装置，它用于接收来自第一探测装置的第一信号，并将第一信号转换为第一影像信息；(3)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(4)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。“入射强度探测装置”接收入射的X射线(或γ射线)，输出“第一影像信息”。“第一影像信息”反映各种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)的大小，它能够由“对数处理装置”直接进行对数处理。“入射强度探测装置”可以是任何接收X射线(或γ射线)并输出强度信息的装置，只要该强度信息能够反映接收的X射线(或γ射线)的强度的大小并且能够直接被“对数处理装置”进行对数处理即可。“入射强度探测装置”也可以是测量X射线管光靶电流的装置，光靶电流的大小可以反映X射线入射强度的大小。“入射强度探测装置”可以是“第一探测装置”与“第一转换装置”的组合；“第一探测装置”接收X射线(或γ射线)，输出“第一信号”。“第一信号”反映各种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度的大小，但不能由“对数处理装置”直接进行对数处理。“第一信号”经过“第一转换装置”转换为“第一影像信息”后才能够由“对数处理装置”进行对数处理；“第一转换装置”和“第二转换装置”的具体形式是根据“对数处理装置”的处理能力和处理方式决定的，具体可以是放大器、模/数(A/D)转换器等；“对数处理装置”完成(5)式中Lk(X，Y))≡-Ln〔I(Ek，X，Y)/I0(Ek)〕的运算，一般是先对入射强度I0(Ek)和透射强度I(Ek，x，y)分别取自然对数，然后完成Lk(X，Y))＝Ln〔I0(Ek)－Ln〔I(Ek，X，Y)〕的算术运算；“影像产生装置”完成(8)式或(13)的矩阵运算，算出各种具体材料的影像Tj(x，y)或dj·Tj(x，y)；“影像处理装置”将“影像产生装置”算出的各种具体材料的影像Tj(x，y)或dj·Tj(x，y)进行最佳化显示处理并显示这些影像，例如调整到最佳亮度、产生最大的对比度、对不同的材料影像着上不同的颜色等等。上述几种技术方案中，第一探测装置和第一转换装置或者入射强度探测装置，在具体制造时，不是必须的，可以固定X射线能量分布的入射强度，通过事先校准，测出入射强度I0(Ek)，算出(14)式中的L″k(X，Y)＝Ln〔I0(Ek)〕，并将这些校准的L″k(X，Y)存贮。在检测过程中不再改变X射线的入射强度I0(Ek)，对数处理装置，只对第二影像信息I(Ek，X，Y)取自然对数得到(14)式中的L′k(X，Y)＝Ln〔I(Ek，x，y)〕，再利用事先存贮的校准的L″k(X，Y)完成(14)式的运算，这样，可以省去第一探测装置和第一转换装置或者入射强度探测装置。校准的数据I0(Ek)或L″k(X，Y)被存贮在校准数据存贮装置中，校准数据存贮装置将存贮的校准数据输入对数处理装置进行对数处理。这种省去第一探测装置和第一转换装置或者入射强度探测装置的X射线检查系统仍在本发明的保护范围内。本发明能够对由未探明的材料组成的整体中各种具体材料的影像进行实时地分离，通过显示器可以显示出各种材料(组)的影像，例如对旅客的行李或一台复杂的设备，可以实时地显示出其包含的各种材料及各种材料的分布情况。本发明用于对旅客的安全检查时，可以从乘客的手提包中的各种物品之中分辨出塑料或木制枪枝，这样能够减少劫机事件的发生。本发明用于邮政检查，可以迅速地显示出邮件中的各种物品，提高检查的效率。本发明用于海关检查，可以从X射线影像中分辨出具体材料的性能，从而能提高检查的效率和保护公众的利益，例如它可以检查非法的农产品，象水果等；可检查未申报的贵重金属，象金等；可检查管制的材料，象环等；也可以检查用改变包装结构进行的药品走私。本发明用于航天航空器的无损结构检查，可以检查出铝、钢和特殊的高温钨合金。本发明用于工业无损检查，可以迅速正确地发现缺陷或裂纹的位置，也可以迅速地检查电路板焊接是否牢固。另外，本发明在废品回收中，可以迅速地发现各种可以回收的材料，特别是从各种废品中发现重金属。下面结合附图对本发明的实施例进行详细描述。图1为用于行李检查的X射线系统的原理图。图2为本发明用于行李检查系统的实施例1的电路方框图。图3为影像增强器和摄像机及分光镜组合的结构示意图。图4为滤光机的结构示意图。图5a和图5b为一种可供选择的摄像机及分光镜装置的示意图。图6为实施例2的X射线源探测器部分的示意图。图7为实施例3的具有四个X射线源探测器对扫描系统的示意图。图8为多个光源扫描系统的时序图。图9为滤光前后的X射线的光谱图。图10为第二探测装置采用平面型半导体探测器的示意图。图11为平面型半导体探测器的结构示意图。图12为线型半导体探测器的结构示意图。图13为实施例4的第二探测装置示意图。图14为实施例5的电路方框图。图15为线性衰减系数曲线。实施例一本实施例是本发明用于行李检查系统的形式，它可以扩展到其它无损检查系统。图2至图5描述了一个能对三种或更多种前面提及的材料组提供实时地具体材料影像分离的系统。如图2所示的系统，通过增加更多的影像获取及处理通道(channels)，很容易改变成对N种主要材料组进行具体材料影像分离的系统。在图2和图3中，带箭头的实线表示影像数据的流向，粗的虚线表示控制或反馈数据线。如图2和图3所示为一行李检查系统，X射线源18a作为X射线(或γ射线)产生装置；主控计算机16作为矩阵存贮装置；滤光机18b作为整形装置；电离池(ionizationcell)24a作为第一探测装置；与电离池24a连接的模/数转换器作为第一转换装置；影像增强器与摄像机及分光镜组合22作为第二探测装置；模/数(A/D)转换器31a、31b、31c作为第二转换装置；对数查表与算术运算装置32a、32b、32c作为对数处理装置；矩阵运算装置34a、34b、34c作为影像产生装置；影像处理器36a、36b、36c、双端口视频缓冲存贮器38a、38b、38c、数/模(D/A)转换器40a、40b、40c和显示器47a、47b、47c组成影像处理装置；主控计算机16作为控制装置提供系统的全面控制；X射线管中的光靶与滤光机的组合18提供影像分离运作所需要的不同光子能量的X射线；皮带输送机机构20将行李输送进X射线检查区；影像增强器与摄像机及分光镜(camera-mirror)组合22探测X射线信息并将其转换为视频影像，这一组合22中也包含提供X射线强度测量和反馈控制功能的电离中池(ioni2ationcell)；模/数(A/D)转换器31a、31b和31c分别将来自影像增强器与摄像机及分光镜组合22的模拟的低、中和高能量的影像，转换为数字影像；对数查表(logarthmiclook-uptabledevices)与算术运算装置32a、32b和32c对A/D转换器31a、31b和31c输出的数字影像进行对数运算；对数查表装置32a、32b和32c也可以包括数字图像帧缓冲器；矩阵运算装置34a、34b和34c对来自对数查表装置32a、32b和32c的影像进行矩阵运算；影像处理器36a、36b和36c把矩阵运算装置34a、34b和34c输出的影像扩大到最大的显示限度；双端口视频缓冲存贮器38a、38b和38c以及视频D/A转换器40a、40b和40c存贮数字影像，并且为了显示器42a、42b和42c显示，将数字影像转换为摸拟视频信号。实施例1的行李检查系统用于辨别三种前面描述的主要材料组轻非金属材料(lightnonmetalmaterials)，如塑料；较轻金属(lightermetals)，如铁和铜；重金属(heavymetals)，如金和铂。它能够很容易地修改为使用多于三种离散的光子能量分布以及只使用两种不同光子能量分布的情况。图3中的X射线源18a产生三种离散的光子能量分布，为了使光子能量分布间重叠较小，滤光机18b对三种光子能量分布进行整形。检查以前，根据选择的光子能量分布和被检查的各种材料组，使用主控计算机16的软件建立在前面方程(7)和(8)中提及的μ-1矩阵。为了在实时地数据获取期间快速地进行算术运算，相应的矩阵元素的值分别被传送并存贮在矩阵运算装置34a、34b和34c中，直到检查中假定的材料组改变以前，μ-1矩阵将保持相同。如果要从象线性衰减系数的值介于轻金属和重金属之间的4d过渡金属(4dtransitionmetals)组中分离出具体材料的影像，主控计算机16可以建立相应的μ-1矩阵并迅速地输入矩阵运算装置34a、34b和34c中。运算的便利方式是根据光子能量和材料组的全部合理组合，在主控计算机16中预先建立并存贮相应的不同μ-1矩阵。通过将存贮的μ-1矩阵输入到矩阵运算装置34a、34b和34c，很容易改变检查的模式。这时主控计算机16也作为切换装置。主控计算机16控制系统的时序，它包括对X射线源与滤光机组合18以及包含在影像增强器与摄像机及分光镜组合22中的CCD摄像机的开/关控制时序。控制时序信号是由主控计算机16控制的并与之连接的电路产生的，通过切换已预先存贮在主控计算机16中的不同的时序设置(timingsetups)，可以改变数据获取的方式。在检查过程中，根据检查员或者专门的电的和/或机械的条件的要求，主控计算机16可以控制皮带输送机机构20连续运行或中断。主控计算机16也存贮检查前由图3所示的电离池24a和24b获得的校准数据。电离池24a获得的校准数据以查表的形式(theformofalook-uptable)瞬间精确地提供不同光子能量的X射线的入射强度I0(E)的测量值。电离池24b获得的校准数据也以查表的形式对主控计算机16提供瞬间的反馈控制信息，控制X射线源18a和摄像机30a、30b和30c中的摄像机光圈，以便使摄像机30a、30b和30c输出的灰度电平不致饱和或曝光不足。在开始获取数据以前，要完成下列两个步骤第一步，对三种材料组建立前述的μ-1矩阵，并将其存贮在适当的存贮区中；第二步，由包含在影像增强器与摄像机及分光镜组合22中的电离池24a和24b测量的入射光强度和摄像机的饱和度被校准，校准数据以查表的形式被存贮，它用于进行瞬间算术运算和反馈控制运算。现在，按照图3和图4对X射线源与滤光机组合18和影像增强器与摄像机及分光镜组合22的运行细节进行描述。如图3所示，主控计算机16前面已经描述过，皮带输送机机构20输送行李21进入X射线检查区，普通的X射线源18a包含一个旋转阳极靶和它的阴极发射丝，阳极靶发射的光子能量KVP的设置是由主控计算机16控制的。滤光机18a具有对不同能量分布的X射线进行滤光的不同滤光片。两个电离池24a和24b提供校准的X射线入射强度(电离池24a)和校准的CCD摄像机饱和反馈控制(电离池24b)。影像增强器26将X射线强度成比例地转化为CCD摄像机30a、30b和30c可以接收的可见光。分光镜由平行的透射反射镜28a和28b组成，它是信号分送装置的一个具体例子，两个平行的透射反射镜28a和28b用于分送来自影像增强器26的可见光，使分送后的可见光进入三个CCD摄像机30a、30b和30c。CCD摄像机30a、30b和30c分别被指定用于低、中和高能量的影像的检测。当滤光机18b的相应的滤光片被切换到相应的X射线区域时，X射线源18a按照低-中-高的方式有顺序地发射X射线(这一过程可参考图4)。不同光子能量的X射线的入射强度I0(Ek)由电离池24测得，并由事先建立的查表瞬间地转化为Ln〔I0(Ek)〕，然后存贮在对数查表与算术运算装置30a、30b和30c中，以便后面使用。影像增强器26产生的可见光携带影像信息，它被两个平行的透射反射镜28a和28b分离成三束。透射反射镜28a的透射反射比是这样选取的，照射到透射反射镜28a上的可见光有33.5％透射，并朝向摄像机30a，有66.5％反射，并朝向另一个透射反射镜28b。透射反射镜28b的透射反射比选为50％的透射和50％的反射。这种选择使输入CCD摄像机30a、30b和30c的可见光之间的强度比为33.50∶33.25∶33.25，近似相等。CCD摄像机捕获影像帧的开/关时序与X射线源18a同步，即当发射低能量X射线时，摄像机30a打开，摄像机30b和30c关闭；当发射中能量X射线时，摄像机30b打开，摄像机30a和30c关闭；当发射高能量X射线时，摄像机30c打开，摄像机30a和30b关闭。这样摄像机30a、30b和30c分别被分配给低、中和高能量影像的获取。多个摄像机及分光镜组合的目的是节省时间，否则，如果采用一个摄像机运行，将要浪费等待前面帧的卸载和数字化所需的时间。因而，三个CCD摄像机以半平行的方式运行。模拟影像信号可以不通过中能量摄像机30b或高能量摄像机30c中的任何一个，而直接连接到显示器42d上显示(如图2)。显示器42d上的影像与普通的单一能量带的X射线投影影像相同，并提供一个包括所有材料的原始图像。如图4所示是滤光机18a的具体实例。步进电机44使固定在电机轴48上的圆形铝盘或圆形硬塑料盘46转动，几只滤光片50a、50b和50c被固定在滤光盘46上。每个滤光片所占的角度为2π/N，N是滤光片的总数，也是使用的不同光子能量的总数。每个单独的滤光片可以被事先选定，并用螺钉52固定在滤光盘46上。每个滤光片50a、50b和50c的材料和厚度是根据X射线的能量决定的。对每种能量的X射线滤光机的选取原理可以在书中找到，例如“ThePlysicsofRadiology”，4thEdition，byH.E.JohnsandJ.R.Cunningham(CharlesC.Thomas，Publisher，1983)。根据如图3所示的摄像机及分光镜组合28a、28b、30a、30b和30c以及象前面描述的每个摄像机的适当的开/关时序，三个摄像机30a、30b和30c按照它们各自分配的X射线能量独立地获取影像。例如，被分配摄取低能量帧的摄像机30a，当获取每个影像帧后，CCD摄像机30a开始将它的缓冲存贮器输出的模拟影像发送到模/数(A/D)转换器31a。这一运行过程不依赖于由CCD摄像机30b和30c处理的其它两个数据通道(datachannels)的运行情况。经过A/D转换器31a转换以后，数字数据被发送到硬件对数查表与算术运算装置32a。首先对数字数据取自然对数，然后将得到的结果减去测量的Ln〔I0(Ek〕值，这样就得到了Lk(X，Y)≡-Ln〔I(Ek，X，Y)/I0(Ek〕。这一对数和算术运算步骤相对CCD摄像机30b和30c处理的其它两个数据通道是独立的。对数和算术装置32a运行完以后，每一个能量通道(energychannel)的数据被送到矩阵运算装置34a、34b和34c中。发生在矩阵运算装置34a、34b和34c中的数学运算可由下列方程表示34a:TN-M=μ-1N-M,Low·LLow+μ-1N-M,Med·LMed+μ-1N-M,High·LHigh----(33)]]>34b:TL-M=μ-1L-M,Low·LLow+μ-1L-M,Med·LMed+μ-1L-M,High·LHigh----(34)]]>34c:TH-M=μ-1H-M,Low·LLow+μ-1H-M,Med·LMed+μ-1H-M,High·LHigh----(35)]]>在这三个方程中，T表示材料的厚度分布，下标N-M、L-M和H-M分别代表轻非金属组、轻金属组和重金属组。这里的μjk-1是在前面的方程(6)至方程(8)中提到的线性衰减系数矩阵μ的逆矩阵μ-1的元素，建立的矩阵μ-1在检查开始以前被贮存在矩阵存贮装置中。这里的LLow、LMed和LHigh分别是前面提到的在低、中和高X射线能量下获取的经过对数运算和算术运算处理的影像，即入射强度的自然对数值减去透射强度的自然对数值。拿轻非金属组为例，从对数查表与算术运算装置32a、32b和32c中获得的Lk(即LLow、LMed和LHigh)全部输入到矩阵运算装置34a中，然后LLow、LMed和LHigh中的每一个都乘上在方程(33)中具体说明的μ-1矩阵的相应的元素，于是就获得了轻非金属材料的厚度分布TN-M(x，y)。在这一运算过程中，直到高能量帧或者按照低-中-高能量X射线的顺序中的最后影像帧获取以前，该系统不能进行任何矩阵运算。为了节省等待的时间，矩阵运算可以在一个像素接一个像素(pixel-by-pixel)的基础上进行，即高能量影像帧的第一个像素值一到达就对这个像素进行矩阵运算。如果开始选择的μ-1矩阵不能达到预期的具体材料影像分离的目的，操作者可以通过瞬间将矩阵存贮单元中的新的μ-1矩阵的元素切换到矩阵运算装置34a、34b和34c中的专用的存贮器(memory)中的方法，来试一下存贮的其它μ-1矩阵。一种动态地切换μ-1矩阵的便利方法是，利用控制软件执行自动地切换，并且直到在显示屏上观察到理想的影像分离才中断切换。矩阵运算装置34a、34b和34c处理完以后，影像分离就基本完成。然而，经矩阵运算获得的影像在反差和亮度方面可能不是最大显示状态(maximumdisplaystate)，因此，影像处理器36a、36b和36c被用于提供最大显示，影像处理器36a、36b和36c完成的计算被事先决定并编程。视频缓冲存贮器38a、38b和38c以及数/模(D/A)转换器40a、40b和40c分别由影像处理器36a、36b和36c控制，它们用于将扩大到最大程度的影像(maximizedimages)输送到模拟视频显示器42a、42b和42c。在本实施例中，不同材料组的影像从部件34到部件42被独立地处理和显示，由于高度的并行处理，使影像间的时间延迟很小。最后，被分离的每种材料组的影像分别在显示器42a、42b和42c上显示，前面提到的包括所有材料的影像同时也在显示器42d上显示。按照显示器的实时显示，行李检查员可以观察到在皮带输送机上经过的物件的连续流动，例如，马上对包含在被检查物件中的三种材料组进行辨另。检查员可以按常规的方式(即连续地显示混合的材料影像)操作该系统，也可以根据需要决定中断该方式，执行影像分离。在常规的方式中，X射线源只产生中或高能量的X射线，并且从部件30到部件40的影像处理步骤被跳过，只有显示器42d在运行，它用于显示所有材料的混合影像。当需要进行影像分离工作时，检查员利用主控计算机16去执行前面描述的影像分离方式的运行。本实施例中描述的部件可以根据检查的具体需要和可以达到的技术水平进行修改。上面公开的实施例中的一个重要特征是使用摄像机及分光镜组合28a、28b、30a、30b和30c(或者其它等效的光分配装置)去分送和处理用不同能量的X射线获取的影像。为了处理多于三种不同能量或者两种不同能量的影像，类似的设计很容易被修改。如图5a和5b所示的装置是图3描述的摄像机及分光镜组合28a、28b、30a、30b和30c的一种替换装置，它是信号分送装置的另一个实施例。一个百分之百的反射镜54被固定在轴56的一端，轴56的另一端与步进电机(图中未画出)连接。轴56与反射镜54不垂直，当步进电机驱动轴56转动时，轴56驱动反射镜54转动，从而将来自影像增强器26的可见光反射到不同的方向。步进电机的运行时序是，当对应于CCD摄像机58a的能量等级的X射线发射时，步进电机就驱动反射镜54停在反射的方向朝向CCD摄像机58a的位置。当这种能量的X射线停止发射后，步进电机又驱动反射镜54停在反射的方向朝向下一个摄像机58b的位置，余类推。因为在普通X射线探测器的基础上各种各样的半导体探测器被发展和试验，所以影像增强器26不是必须采用的部件。在本实施例中，如果省去影像增强器26，为了进行处理可以使用排列整齐的一批光导线维(fiberoplics)来取得和分送影像信号。这是信号分送装置的又一个实施例。图2中的影像增强器与摄像机及分光镜组合不是第二探测装置的唯一选择，如图10所示是第二探测装置的另一个实施例。图10中省去了影像增强器与摄像机及分光镜组合，采用平面型半导体探测器3作为第二探测装置。平面型半导体探测器(semiconductordetector)如图11所示，它上面有许多小的感测元，它们能够接收X射线，将X射线的强度I(Ek，x，y)转化为摸似的电信号(即第二信号)。如图10所示，X射线源18a分别产生低、中、高三种能量分布的X射线，经滤光机18b滤光后穿过行李21。平面型半导体探测器3先后接收穿过行李21后的低、中、高三种能量的透射X射线，先后输出反映低、中、高三种能量的X射线的透射强度I(Ek，x，y)大小的摸似电信号(即第二信号)，该信号经模/数(A/D)转换器4转换为数字信号(即第二影像信息)后，输入缓冲存贮器与信号分送选取电路5。模/数(A/D)转换器为第二转换装置。经数字化的低、中、高三种能量的X射线的透射强度信号被存入缓冲存贮器中，然后由信号分送选取电路按照一定的顺序分别送至对数处理装置32a、32b、和32c中。后面的处理过程与实施例1中相同。信号分送选取电路为一地址选取电路，它按低、中、高三个能量通道的逻辑状态来取舍影像信息的传送方向。实施例二图6所示是X射线源—探测器部分的另一个具体例子。由X射线源60a、60b和60c产生并由滤光器61a、61b和61c滤光的三种扇形X射线束(相对前面描述的投影成像)，它们分别携带低、中和高三种光子能量，相对应的带有摄像机的X射线探测器设置在如图所示横向间隔长度为L的62a、62b和62c处。经探测器62a、62b和62c处理后，每种能量的X射线透射信息被转换并发送到图2中影像处理线路的开始端31a、31b和31c。因为这种装置对三种不同能量的X射线提供同时的和独立的影像获取(imageacquisition)，因此，能进行实时(real-time)的影像处理。如果皮带输送机20以速度v运动，那么第一(60a和61a)和第二(60b和61b)X射线源—探测器对之间或者第二(60b和61b)和第三(60c和61c)X射线源—探测器对之间，对物件21上同一位置的时间延迟可以表示为ΔT＝L/|v|。即使皮带输送机20不是匀速运动，在整个实时影像处理的过程中，这一时间延迟也可以被反馈校正，并且时间延迟只影响第一个具体材料影像帧的开始时刻，不影响后面的。在进行实时成像方面，这种多重的X射线源扫描器的一个优点是X射线源—探测器对的总数对实时影像处理的进行没有限制，而常规的单一X射线源扫描器受能够产生的不同能量的X射线的总数和每种X射线产生脉冲的宽度的限制。常规的单一X射线源扫描装置的取帧速度受等待从不同能量获取的所有影像所花费的时间的限制。实施例二中，X射线源60a、60b和60c为X射线(或γ射线)产生装置，滤光器61a、61b和61c为整形装置，皮带输送机20为扫描装置，探测器62a、62b和62c为第二探测装置，校正装置可以是存贮有校正程序的主控计算机16。实施例二中的探测器62a、62b和62c也可以采用如图12所示的线型半导体探测器。实施例三图7所示是具有四个X射线源—探测器对的扫描系统，它能够分离四种材料组的影像，象轻非金属(lightnonmetals)、轻和3d过渡金属(lightand3dtransitionmetals)、4d过渡和轻稀土金属(4dtransitionandlightrareearthmetals)以及重金属(见表1)。这一实施例在图6的基础上附加的部件是X射线源60d、滤光器61d和探测器62d。图8所示是多重X射线源扫描系统的时序图，图中所示的时间差是以任意比例画出的，它仅仅是为了说明而已。在X射线探测器70、模/数转换器72和对数运算74部分的小写字母a、b、c和d，分别代表四种能量通道(energychannels)；在矩阵运算76、影像最大化78和显示80部分中的大写字母A、B、C和D分别代表四种材料组。当行李或物件运动时，由X射线源—探测器对的位置决定，探测器70按照a-b-c-d的顺序获取影像数据。假设皮带输送机匀速运动，则探测的影像之间的时间延迟由ΔT＝L/|V|给出。探测器70获取最初的影像数据以后，这些影像数据在每一个单独的能量通道a、b、c和d中由模/数转换72转换。由于电子的传播(duetoelectronicpropagation)，72a的起动有一个来自70a起动的非常小的时间延迟，对实时成像的时间大小来说，该时间延迟可以忽略。单独的能量通道a、b、c和d之间来自皮带输送机运动的时间延迟被保持。由于存在小传输延迟，这些影像数据沿着每一个能量通道被更迟地传输到对数运算74，并且能量通道之间延迟ΔT＝L/|v|仍然保持。对数运算完成后，每个能量通道中的数据被发送到矩阵运算76。在全部四个能量通道中的数据到达之前矩阵运算区不发生矩阵运算。因此对每个具体材料的矩阵运算76A、76B、76C和76D只要在能量通道74d中的对数运算一开始就开始(onset)。经过矩阵运算以后，就初步获得了具体材料影像，这些影像分别沿着能量通道76A、76B、76C和76D被送到影像最大化区。在这些能量通道中，影像通过如图2中36描述的影像处理器，影像处理器存贮着影像处理程序。经影像处理器处理以后的影像被发送至如图2中38和40所描述的缓冲存贮器和数/模转换区。根据最大化算法的复杂程度，这些运算要花费一些时间，但是对实时显示的综合时间需要，这些方法可以被设计好。最后一步是在象图2中42所示的显示器上显示处理过的影像。除了影像显示的开始有来自能量通道70a的数据的第一个获取值的3ΔT时间延迟以外，对检查员来说，这种显示是实时的，即连续的。实施四本实施例是采用一种带宽较宽的X射线对三种材料进行影像分离的系统，如图13所示本实施例从模/数转换器31a、31b和31c以后的处理过程与图2所示的实施例1相同。线型半导体探测器6a、6b和6c、金属夹层7、8和求解高、中、低能量影像电路9组成第二探测器。X射线源18a为X射线(或γ射线)产生装置，它产生一带宽较宽的X射线分布，该X射线分布具有入射强度I0。这一带宽较宽的X射线分布可被细分为带宽较窄的低、中、高三种能量分布的X射线，它们分别具有入射强度I0(低)、I0(中)、I0(高)，所以，I0＝I0(低)＋I0(中)＋I0(高)。如果X射线源18a的光靶电压不变，只改变光靶电流，则I0(低)、I0(中)和I0(高)成同一比例变化，所以通过事先校准，只要电离池24a测出I0，就可得到I0(低)、I0(中)和I0(高)。设带宽较宽的X射线分布穿过物件21后的透射强度为I，带宽较窄的低、中、高三种能量的X射线分布的透射强度为I(低，X，Y)、I(中，X，Y)、I(高，X，Y)，则I＝I(低，X，Y)＋I(中，X，Y)＋I(高，X，Y)，当透射的X射线分布穿过金属夹层7后，低能量的X射线分布被滤掉，中、高能量的X射线分布穿过。当中、高能量的X射线分布穿过金属夹层8后，中能量的X射线分布又被滤掉，只有高能量的X射线分布穿过。设探测器6a探测的X射线强度为I1，探测器6b探测的为I2，探测器6c探测的为I3，则有I3＝I(高，X，Y)I2＝I(中，X，Y)＋I(高，X，Y)I1＝I＝I(低，X，Y)＋I(中，X，Y)＋I(高，X，Y)所以，I(高，X，Y)＝I3(36)I(中，X，Y)＝I2－I3(37)I(低，X，Y)＝I1－I2(38)求解高中低能量影像电路9具体可以是减法电路，它接收探测器6a、6b和6c输出的强度信息I1、I2和I3，并完成(36)式、(37)式和(38)式的运算，输出第一信号I(低，X，Y)、I(中，X，Y)和I(高，X，Y)。I(低，X，Y)、I(中，X，Y)和I(高，X，Y)分别被送至图2中的模/数转换器31a、31b和31c，后面的部分与图2所示的实施例1相同。本实施例是采用扫描的方式对物件21进行检测的，扫描装置包括皮带输送机20。皮带输送机20将物件21送入X射线检查区，由X射线源18a和探测器6a、6b和6c对其进行扫描。金属夹层7和探测器6a对中、高能量的X射线分布的吸收以及金属夹层8和探测器6b对高能量X射线分布的吸收都可以事先校准。本实施例增加或减少线型半导体探测器和金属夹层的数量，很容易修改为对四种以上材料的影像和对二种材料的影像进行分离的系统。实施例五本实施例为采用高低两种能量的X射线分布对二种或二种以上的材料组的影像进行分离的系统。如图14所示，X射线源18a为X射线(或γ射线)产生装置；电离池24a为第一探测装置，它于一个模/数转换器组成入射强度探测装置；线型半导体探测器6a和6b、金属夹层7以及求解高低能量影像电路9组成第二探测装置；模/数(A/D)转换器31为第二转换装置；第二探测装置和第二转换装置组成透射强度探测装置。上述各种装置的工作原理与实施例4相同，不同的是本实施例的第一和第二探测装置只探测带宽较窄的高低两种能量分布的X射线。本实施例中的X射线(或γ射线)产生装置、第一和第二探测装置、第一和第二转换装置也可以采用实施例一或实施例二中的相应部分，并增加滤光机作为整形装置，只是将低、中、高三种能量分布的X射线改为高、低两种能量分布的X射线，即减少一个数据通道。对数运算电路32为对数处理装置，矩阵运算电路34为影像产生装置，这些装置的工作原理与实施例一中相应的部分相同，只是将低、中、高三种能量影像的运算改为高、低两种能量影像的运算。影像处理电路36主要由微处理机(microprocessor)和存贮器(memory)组成，影像显示电路42主要由缓冲存贮器(buffermemory)数/模转换器及显示器组成。影像处理电路36与影像显示电路42组成影像处理装置。主控计算机16作为控制装置用于控制整个系统的运行和时序，主控计算机16也作为矩阵存贮装置。比值运算电路11为比值影像产生装置，它主要由除法运算电路组成。开始就已提到，不同的材料对不同能量的X射线的线性衰减系数的改变的大小不同。如图15所示是塑料和金属对不同能量的X射线的线性衰减系数的变化曲线，从图可以看出，塑料对高低能量的X射线的线性衰减系数的比值接近1，而金属则小于1。在材料不重叠的情况下，通过测量材料对高低两种能量的X射线的线性衰减系数的比值的大小，可以知道材料的大体组成。根据(1)式可知，材料对高低两种能量的X射线的线性衰减系数比为对数运算电路输出的Ln〔I(高，X，Y)/I0(高)〕和Ln〔I(低，X，Y)/I0(低)〕既输入矩阵运算电路36进行矩阵运算对各种材料进行影像分离，又输入比值运算电路11进行(39)式的运算，求出材料对高低两种能量的X射线的线性衰减系数比。影像处理电路主要完成下列运算，对由矩阵运算电路输入的两种材料的影像进行对比加强并着上不同的颜色，然后把这两幅着色的图像混合为一幅混色图。将由比值运算电路输入的各种材料对高低两种能量的X射线的线性衰减系数的比值，按照一定的范围着以不同的颜色。图像显示电路具有7个显示器，分别显示影像分离前的各种材料的混合影像、影像分离后的材料1的对比加强影像、影像分离后的材料2的对比加强影像、材料1的着色影像、材料2的着色影像、材料1和材料2的着色混成影像、线性衰减系数比值的着色影像。上述各种显示可以由检查员利用键盘及介面电路(12)通过主控计算机16选择。例如当被检查的物件中存在塑料、铝、铁三种材料时，如果矩阵存贮装置中事先对塑料和铝、铝和铁、塑料和铁分别建立了三个二维的μ-1矩阵。假设这三种材料不重叠或只有两种重叠，用塑料和铁的μ-1矩进行影像分离时，可以分离出塑料和铁的影像。在塑料铁各自的对比加强影像中都出现铝的影像，但不能确定该影像是铝的影像。将塑料和铁的μ-1切换为塑料和铝的μ-1矩阵，可以分离出塑料和铝的影像，在塑料和铝各自的对比加强影像中都出现铁的影像。这样使用高、低两种能量的X射线，切换一次μ-1矩阵就可以分离出塑料、铝和铁三种材料的影像。也可以不切换μ-1矩阵，而用矩阵运算的影像分离与线性衰减系数的比值图像结合进行判断。若将塑料着以红色、铁着以兰色。当用塑料和铁的μ-1矩阵进行影像分离时，在显示的塑料和铁各自的着色影像中，塑料呈红色、铁呈兰色，由于铝的影像在分离的塑料和铁的影像中都出现，所以在塑料和铁的着色混成影像中铝的影像呈红和兰的混色紫色，此时可以明显知道有第三种材料存在。再根据线性衰减系数影像中显示的铝的影像的颜色，可以判断第三种材料为铝。在实施例五中，由第一探测装置与第一转换装置组成的入射强度探测装置，在具体制造时，不是必须的，可以固定X射线能量分布的入射强度，通过事先校准，测出入射强度I0(Ek)，算出(14)式中的L″k(x，y)＝Ln〔I0(Ek)〕，并将这些校准的L″k(x，y)存贮。在检测过程中不再改变X射线的入射强度I0(Ek)，对数处装置只对第二影像信息I(Ek，x，y)取自然对数得到(14)式中的L′k(x，y)＝Ln〔I(Ek，x，y)〕，再利用事先存贮的校准的L″k(x，y)完成(14)式的运算。这样，可以省去由第一探测装置与第一转换装置组成的入射强度探测装置。事先校准的入射强度I0(Ek)或(14)式中的L″k(x，y)被存贮在校准数据存贮装置中，该装置可以是主控计算机16。校准数据存贮装置将事先存贮的校准的I0(Ek)或L″k(x，y)输入对数处理装置进行对数处理。表1单位＝cm-1材料取自于“NationalBureauofStandardsCompilationofx-rayCrossections”，W.H.McMasteretal，UniversityofCaliforniaLivermore，Report#UCRL-50174，Sec.11，Rev.1(1969)权利要求1.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)透射强度探测装置，它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(4)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(5)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1阵，产生N种材料组的具体材料影像；(6)影像处理装置，它用于处理并输出具体材料影像。2.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布，而这一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布可被细分为带宽较窄的N种不同能量分布，每种带宽较窄的能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)透射强度探测装置，它用于探测X射线(或γ射线)产生装置产生的带宽较宽的X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体以后，N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(4)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(5)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(6)影像处理装置，它用于处理并输出具体材料影像。3.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它用于探测经过整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(6)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(7)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(8)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。4.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数，矩阵存贮装置中至少存贮着两个μ-1矩阵，每个μ-1矩阵对应不同的一套N种材料组；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它用于探测经过整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(6)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(7)切换装置，它用于在检测过程中从一个对应一套N种材料组的μ-1矩阵动态地切换到另一个对应另一套N种材料组的μ-1矩阵，切换的目的是找到恰当的一套N种材料组，它能最好地代表存在于被检查整体中的实际材料组，或者当由未探明的材料组成的整体中的实际存在的材料组的总数大于N时，切换一次μ-1矩阵可以分离出几种材料组的影像，再切换一次μ-1矩阵又可以分离出另外几种材料组的影像，最终可使实际存在的所有材料组的影像全部得到分离；(8)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(9)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。5.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它用于探测经过整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(6)信号分送装置，它用于在至少两个影像接收器之间分送或传输对应于不同能量分布的X射线(或γ射线)的第二影像信息；(7)控制装置，它用于控制X射线(或γ射线)产生装置、整形装置、第二探测装置和影像接收器的时序以及每一个影像接收器对第二影像信息的获取和处理时序；(8)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(9)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(10)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。6.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数，X射线(或γ射线)产生装置包括至少两个同时产生两种不同能量的X射线(或γ射线)的X射线(或γ射线)源；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)第二探测装置，它包括至少两个同时运行的探测器，它用于探测经过整形装置整形的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，第二探测装置输出第二信号，第二信号与第二探测装置的探测量相一致；(5)扫描装置，它通过移动X射线(或γ射线)源或者移动由未探明的材料组成的整体，进行同时存在的各种能量分布的X射线(或γ射线)扫描；(6)校正装置，它用于校正考虑到由未探明的材料组成的整体或X射线(或γ射线)源的运动速度时，由X射线(或γ射线)源和探测器的空间排列产生的影像时间延迟；(7)第二转换装置，它用于接收来自第二探测装置的第二信号，并将第二信号转换为第二影像信息；(8)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(9)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(10)影像处理装置，它用于处理并显示具体材料影像。7.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数，N等于2；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)入射强度探测装置它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，入射强度探测装置输出第一影像信息；(5)透射强度探测装置，它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(6)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(7)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(8)比值影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息，产生材料对高、低两种能量的X射线(或γ射线)的线性衰减系数的比值影像；(9)影像处理装置，它用于处理并显示影像产生装置产生的具体材料影像和比值影像产生装置产生的线性衰减系数的比值影像。8.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布，而这一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布可被细分为带宽较窄的N种不同能量分布，每种带宽较窄的能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数，K等于2；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)入射强度探测装置，它用于探测X射线(或γ射线)产生装置产生的带宽较宽的X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体以前带宽较窄的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)，入射强度探测装置输出第一影像信息；(4)透射强度探测装置，它用于探测X射线(或γ射线)产生装置产生的带宽较宽的X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体以后，N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(5)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(6)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(7)比值影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息，产生材料对高、低两种能量的X射线(或γ射线)的线性衰减系数的比值影像；(8)影像处理装置，它用于处理并显示影像产生装置产生的具体材料影像和比值影像产生装置产生的线性衰减系数的比值影像。9.根据权利要求1所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括(1)入射强度探测装置，它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，入射强度探测装置输出第一影像信息；(2)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(3)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。10.根据权利要求2所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括(1)入射强度探测装置，它用于探测X射线(或γ射线)产生装置产生的带宽较宽的X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体以前带宽较窄的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)，入射强度探测装置输出第一影像信息；(2)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(3)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。11.根据权利要求2所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括扫描装置，它通过移动X射线(或γ射线)源或者移动由未探明的材料组成的整体，进行X射线(或γ射线)扫描。12.根据权利要求10所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括扫描装置，它通过移动X射线(或γ射线)源或者移动由未探明的材料组成的整体，进行X射线(或γ射线)扫描。13.根据权利要求3所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括(1)第一探测装置，它用于探测经过整形装置整形的N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)中的每一种的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在经过整形装置整形的N种能量分布的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，第一探测装置输出第一信号，第一信号与第一探测装置的探测量相一致；(2)第一转换装置，它用于接收来自第一探测装置的第一信号，并将第一信号转换为第一影像信息；(3)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(4)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。14.根据权利要求4所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括(1)第一探测装置，它用于探测经过整形装置整形的N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)中的每一种的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在经过整形装置整形的N种能量分布的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，第一探测装置输出第一信号，第一信号与第一探测装置的探测量相一致；(2)第一转换装置，它用于接收来自第一探测装置的第一信号，并将第一信号转换为第一影像信息；(3)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(4)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。15.根据权利要求5所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括(1)第一探测装置，它用于探测经过整形装置整形的N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)中的每一种的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在经过整形装置整形的N种能量分布的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，第一探测装置输出第一信号，第一信号与第一探测装置的探测量相一致；(2)第一转换装置，它用于接收来自第一探测装置的第一信号，并将第一信号转换为第一影像信息；(3)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(4)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。16.根据权利要求6所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括(1)第一探测装置，它用于探测经过整形装置整形的N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)中的每一种的入射强度I0(Ek)，这种探测发生在经过整形装置整形的N种能量分布的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体之前，第一探测装置输出第一信号，第一信号与第一探测装置的探测量相一致；(2)第一转换装置，它用于接收来自第一探测装置的第一信号，并将第一信号转换为第一影像信息；(3)对数处理装置，它用于对第一和第二影像信息进行对数处理；(4)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像。17.根据权利要求1、2、7、8、9、10、11或12所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，透射强度探测装置包括一个半导体探测器(Semiconductordetector)。18.根据权利要求3、4、6、13、14、或16所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，第一或第二探测装置包括一个半导体探测器(Semiconductordetector)。19.根据权利要求1、2、3、4、5、7、8、9、10、13、14或15所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括一运送由未探明的材料组成的整体通过检查系统的皮带输送机。20.根据权利要求6、11、12或16所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，扫描装置包括一个皮带输送机。21.根据权利要求1、2、3、4、5、6、9、10、11、12、13、14、15或16所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，影像处理装置包括N个显示器，每个显示器显示N种材料组中一种材料组的影像。22.根据权利要求13或14所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括用于控制X射线(或γ射线)产生装置、整形装置、第一和第二探测装置、第一和第二转换装置、对数处理装置、切换装置、影像接收器、影像产生装置、影像处理装置和皮带输送机中的一个或多个的运行和时序的控制装置。23.根据权利要求16所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括用于控制X射线(或γ射线)产生装置、整形装置、第一和第二探测装置、第一和第二转换装置、扫描装置、对数处理装置、切换装置、影像接收器、影像产生装置、影像处理装置和皮带输送机中的一个或多个的运行和时序的控制装置。24.根据权利要求15所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，进一步包括用于控制X射线(或γ射线)产生装置、整形装置、第一和第二探测装置、第一和第二转换装置、信号分送装置、对数处理装置、切换装置、影像接收器、影像产生装置、影像处理装置和皮带输送机中的一个或多个的运行和时序的控制装置。25.根据权利要求13、14、15或16所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括用于控制第一和第二探测装置饱和和曝光不足的控制装置。26.根据权利要求13、14、15或16所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括通过控制X射线(或γ射线)的强度来控制进入第一和第二探测装置的光的数量的控制装置。27.根据权利要求6、11、12或16所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，扫描装置包括移动X射线(或γ射线)产生装置通过由未探明的材料组成的整体的移送装置。28.根据权利要求5或15所述一种X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，信号分送装置包括光导纤维(Fiberoptics)。29.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数，N等于2；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)整形装置，它用于对X射线(或γ射线)产生装置产生的N种不同能量分布的X射线(或γ射线)进行整形；(4)校准数据存贮装置，它用于存贮事先校准的N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)(即第一影像信息)或者入射强度I0(Ek)自然对数值Ln〔I0(Ek)〕；(5)透射强度探测装置，它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(6)对数处理装置，它用于对校准的入射强度I0(Ek)(即第一影像信息)和第二影像信息进行对数处理或者对第二影像信息取自然对数，再与校准的入射强度I0(Ek)的自然对数值Ln〔I0(Ek)〕进行算术运算；(7)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(8)比值影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息，产生材料对高、低两种能量的X射线(或γ射线)的线性衰减系数的比值影像；(9)影像处理装置，它用于处理并显示影像产生装置产生的具体材料影像和比值影像产生装置产生的线性衰减系数的比值影像。30.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布，而这一带宽较宽的X射线(或γ射线)分布可被细分为带宽较窄的N种不同能量分布，每种带宽较窄的能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数，N等于2；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)校准数据存贮装置，它用于存贮事先校准的带宽较窄的N种不同能量分布Ek的X射线(或γ射线)的入射强度I0(Ek)(即第一影像信息)或者入射强度I0(Ek)的自然对数值Ln〔I0(Ek)〕；(4)透射强度探测装置，它用于探测X射线(或γ射线)产生装置产生的带宽较宽的X射线(或γ射线)分布穿过由未探明的材料组成的整体以后，N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(5)对数处理装置，它用于对校准的入射强度I0(Ek)(即第一影像信息)和第二影像信息进行对数处理或者对第二影像信息取自然对数，再与校准的入射强度I0(Ek)的自然对数值Ln〔I0(Ek)〕进行算术运算；(6)影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息及μ-1矩阵，产生N种材料组的具体材料影像；(7)比值影像产生装置，它利用经过对数处理的第一和第二影像信息，产生材料对高、低两种能量的X射线(或γ射线)的线性衰减系数的比值影像；(8)影像处理装置，它用于处理并显示影像产生装置产生的具体材料影像和比值影像产生装置产生的线性衰减系数的比值影像。全文摘要本发明是一种利用X射线(或γ射线)进行无损检查的系统，为克服已有X射线(或γ射线)无损检查系统不能对被检查的物件进行实时地影像分离的缺点，本发明包括X射线(或γ射线)产生装置、矩阵存贮装置、整形装置、第一和第二探测装置、第一和第二转换装置、对数处理装置、影像产生装置和影像处理装置。它主要用于对旅客行李检查、邮政检查、海关检查、工业无损检查和废品回收中，能够实时地对各种材料进行影像分离。文档编号G01N23/02GK1132856SQ9511568公开日1996年10月9日申请日期1995年10月18日优先权日1994年11月23日发明者唐志宏,钱耀进申请人:唐志宏,钱耀进