技术编号:6102119
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路器件和电路的微电流测试,尤其指一种微电流测试装置。背景技术 随着集成电路的快速发展进展,对于集成电路器件的微电流测量已达到了很高的要求,有时甚至需要精度达到小于10-12安培。传统的针对器件的微电流测试,其方法往往过于繁琐,设备也较为复杂,同时需要专用电源和校准装置等等,而且功耗较大,不利于正常使用。而对于大规模集成电路器件的微电流测试装置,一般同时要求较高的电流精度和功耗,而当前通用的设备很难达到所需指标,尤其不能满足某些特殊集成电路的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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